[发明专利]新型磁控形状记忆合金多场耦合力学性能测试平台有效
| 申请号: | 201310533921.X | 申请日: | 2013-11-01 |
| 公开(公告)号: | CN103776697A | 公开(公告)日: | 2014-05-07 |
| 发明(设计)人: | 许仁波;涂福泉;段晶晶;陈新元;傅连东;刘春雨;杨攀;孟奇龙 | 申请(专利权)人: | 武汉科技大学 |
| 主分类号: | G01N3/12 | 分类号: | G01N3/12;G01N3/02 |
| 代理公司: | 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 | 代理人: | 陈圣清 |
| 地址: | 430000 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | 本发明提供一种新型磁控形状记忆合金多场耦合力学性能测试平台,包括底座;下固定工装、磁场产生组件、上固定工装、传感测量组件和外壳。该测试平台,包含的磁场产生组件中的铁芯为可调式,可根据合金的尺寸调整铁芯形成的第一间隙的大小,从而使其产生的磁场与合金更加匹配,提高实验测试的准确性。 | ||
| 搜索关键词: | 新型 形状 记忆 合金 耦合 力学性能 测试 平台 | ||
【主权项】:
一种新型磁控形状记忆合金多场耦合力学性能测试平台,其特征在于,包括:底座;下固定工装,所述的下固定工装包括设置于所述的底座上的下固定安装座及第一支座,所述的第一支座上设有与所述的下固定安装座间隙配合的孔一,所述的下固定安装座穿过所述的孔一;磁场产生组件,所述的磁场产生组件包括设置于所述的第一支座上的铁芯和缠绕在所述铁芯上的绕组,所述的铁芯包括固定铁芯与活动铁芯,所述的固定铁芯与活动铁芯之间形成第一间隙,所述的绕组包括偏置绕组和控制绕组,所述的偏置绕组缠绕在所述的固定铁芯上,所述的控制绕组缠绕在所述的活动铁芯上;上固定工装,所述的上固定工装包括上固定安装座及第二支座,所述的第二支座上设有与所述的上固定安装座间隙配合的孔二,所述的上固定安装座穿过所述的孔二,所述的第二支座设置于所述的铁芯上,所述的上固定安装座与下固定安装座设置于所述的固定铁芯与活动铁芯形成的第一间隙的两端;传感测量组件,所述的传感测量组件包括形变测量装置、磁场测量装置、力传感器及温度测量装置,所述的形变测量装置包括设置于所述第二支座上的微位移传感器和设置于所述上固定安装座上的位移反馈件,所述的磁场测量装置为设置于所述的第一间隙所在的铁芯上的霍尔传感器,所述的力传感器设置于所述下固定安装座的下面,所述的温度测量装置为设置于所述的第一间隙所在的铁芯上的温度传感器;外壳,所述的外壳上设有供所述的上固定安装座穿过的孔三,所述的外壳设置于所述的底座上。
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