[发明专利]测量系统

摘要

本发明公开了一种测量系统测量物体的光穿透率，该测量系统包含光源组件、感应单元、承载单元与处理单元。该光源组件发射第一光线。该感应单元通过感应该第一光线的光强度而产生第一感应信号。该承载单元设置在该光源组件与该感应单元之间，以承载该物体。该第一光线入射至该物体的一侧，使得该第一光线的光强度经过该物体的衰减或增强，而从该物体的另一侧出射第二光线。该感应单元通过感应该第二光线的光强度而产生第二感应信号。该处理单元执行演算法以计算该第一感应信号与该第二感应信号而产生计算结果。该处理单元通过该计算结果而确定该物体的光穿透率。

主权项

一种测量系统，用于测量物体的光穿透率，其特征在于，该测量系统包含：光源组件，其发射第一光线，该第一光线的光学频谱范围介于300纳米与800纳米之间；感应单元，其接收该第一光线，该感应单元通过感应该第一光线的光强度而产生第一感应信号；承载单元，其设置在该光源组件与该感应单元之间，该承载单元承载该物体，当该第一光线入射至该物体的一侧之后，该第一光线的光强度经过该物体的衰减或增强，而从该物体的另一侧出射第二光线，该感应单元接收该第二光线，以通过感应该第二光线的光强度而产生第二感应信号；以及处理单元，其连接该感应单元，该处理单元执行演算法以计算该第一感应信号与该第二感应信号而产生计算结果，该处理单元通过该计算结果而确定该物体的该光穿透率。