[发明专利]测量系统

说明书

技术领域

本发明涉及光学测量的技术领域，尤其涉及一种测量系统。

背景技术

在现有技术中，通过例如紫外线/可见光分光光谱仪对物体进行测量，以精确地计算出该物体的光穿透率。

然而，实际上，对于光穿透率的精准度要求不高的物体，不适合采用体积大且价格昂贵的紫外线/可见光分光光谱仪对该物体进行测量，例如在一间工厂中的多条生产线上，为降低生产成本，无法大量采购紫外线/可见光分光光谱仪。

有鉴于此，本发明提出一种测量系统，以解决现有技术的缺陷。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测量系统，通过简易的与低制作成本的架构，以测量物体的光穿透率。

为达到上述目的，本发明提供一种测量系统用于测量物体的光穿透率，该测量系统包含光源组件、感应单元、承载单元与处理单元。该光源组件发射第一光线，该第一光线的光学频谱范围介于300纳米与800纳米之间。该感应单元接收该第一光线。该感应单元通过感应该第一光线的光强度而产生第一感应信号。该承载单元设置在该光源组件与该感应单元之间。该承载单元承载该物体。当该第一光线入射至该物体的一侧之后，该第一光线的光强度经过该物体的衰减或增强，而从该物体的另一侧出射第二光线。该感应单元接收该第二光线，以通过感应该第二光线的光强度而产生第二感应信号。该处理单元连接该感应单元。该处理单元执行演算法以计算该第一感应信号与该第二感应信号而产生计算结果。该处理单元通过该计算结果而确定该物体的光穿透率。

附图说明

图1为本发明一实施例的测量系统的框图。

图2说明图1中该光源组件的第一实施例的框图。

图3说明图1中该光源组件的第二实施例的框图。

具体实施方式

为充分了解本发明的目的、特征及功效，通过下述具体的实施例，并配合附图，对本发明做详细说明，说明如后：

请参考图1，本发明一实施例的测量系统的框图。在图1中，该测量系统10测量物体2的光穿透率。该穿透率的定义为出射光的光强度除以入射光的光强度的百分比。

该测量系统10包含光源组件12、感应单元14、承载单元16与处理单元18。

该光源组件12发射第一光线LB₁。该第一光线LB₁为可见光，该第一光线LB₁的光学频谱范围介于300纳米与800纳米之间。

该感应单元14接收该第一光线LB₁，例如该感应单元为太阳能板或发光二极管。该感应单元14通过感应该第一光线LB₁的光强度而产生第一感应信号SS₁。举例而言，若该感应单元14为太阳能板，该第一光线LB₁将在该太阳能板产生电流，而该第一光线LB₁的光强度将决定该电流的电流强度，该第一感应信号SS₁对应该电流的电流强度。

该承载单元16设置在该光源组件12与该感应单元14之间。该承载单元16承载该物体2。当该第一光线LB₁入射至该物体2的第一侧22之后，该第一光线LB₁的光强度经过该物体2的衰减或增强，而从该物体2的第二侧24出射第二光线LB₂。该感应单元14通过感应该第二光线LB₂而产生第二感应信号SS₂，该第二感应信号SS₂对应该电流的电流强度。

该处理单元18连接该感应单元14。该处理单元18执行演算法(图中未示出)以计算该第一感应信号SS₁与该第二感应信号SS₂而产生计算结果CR。该处理单元18通过该计算结果CR而确定该物体2的光穿透率。

请参考图2，说明图1中该光源组件的第一实施例的框图。该光源组件12’包含发光二极管122与驱动单元124。

该发光二极管122的数量为一个(在一个发光二极管的外延上制作至少三个波长的发光二极管，例如红光、绿光与蓝光)或多个(例如三个发光二极管可各自发射出红光、绿光与蓝光)，而该发光二极管122通过施加电压而产生具有某一特定频谱范围中一波长的第一光线LB₁。