[发明专利]测量系统

权利要求书

1.一种测量系统，用于测量物体的光穿透率，其特征在于，该测量系统包含：

光源组件，其发射第一光线，该第一光线的光学频谱范围介于300纳米与800纳米之间；

感应单元，其接收该第一光线，该感应单元通过感应该第一光线的光强度而产生第一感应信号；

承载单元，其设置在该光源组件与该感应单元之间，该承载单元承载该物体，当该第一光线入射至该物体的一侧之后，该第一光线的光强度经过该物体的衰减或增强，而从该物体的另一侧出射第二光线，该感应单元接收该第二光线，以通过感应该第二光线的光强度而产生第二感应信号；以及

处理单元，其连接该感应单元，该处理单元执行演算法以计算该第一感应信号与该第二感应信号而产生计算结果，该处理单元通过该计算结果而确定该物体的该光穿透率。

2.如权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述光源组件包含发光二极管与驱动单元，该发光二极管连接该驱动单元，该驱动单元产生驱动信号以驱动该发光二极管而产生所述第一光线。

3.如权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述光源组件包含白炽灯与驱动单元，该白炽灯连接该驱动单元，该驱动单元产生驱动信号以驱动该白炽灯以产生第三光线。

4.如权利要求3所述的测量系统，其特征在于，还包含滤光单元，该滤光单元设置在所述光源组件与该承载单元之间，所述第三光线经由该滤光单元，让所述第三光线的光学频谱与所述第一光线的光学频谱相同。

5.如权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述感应单元为太阳能板或发光二极管。