[发明专利]薄膜掩模修正装置无效

专利信息
申请号: 201310435048.0 申请日: 2013-09-23
公开(公告)号: CN103792801A 公开(公告)日: 2014-05-14
发明(设计)人: 阿部和芳;杉田健一 申请(专利权)人: 株式会社阿迪泰克工程
主分类号: G03F9/00 分类号: G03F9/00;G03F7/20
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供薄膜掩模修正装置,能够在曝光装置外容易且正确地修正、校正薄膜掩模与基板的局部偏差。该薄膜掩模修正装置具有基板台(1)、薄膜掩模基座(2)、摄像装置(3)、加压装置(4)以及薄膜掩模保持架(70)。薄膜掩模基座(2)具有透明的玻璃板(20)和升降装置(21),将玻璃板(20)重叠在基板(90)上,通过上升而将薄膜掩模(95)转移到薄膜掩模保持架(70)。摄像装置(3)重叠地拍摄基板(90)与薄膜掩模(95)以及基板产品图案(92)与掩模产品图案(97),观测基板(90)与薄膜掩模(95)的画面的差分。通过摩擦块(40)进行薄膜掩模(95)的修正,薄膜掩模保持架(70)接收修正后的薄膜掩模(95)并转移到下一个工序。
搜索关键词: 薄膜 修正 装置
【主权项】:
一种薄膜掩模修正装置,其特征在于,包括:基板台,其载置具有对位用的基板标记的基板;由透明体构成的薄膜掩模基座,其在所述基板台的上方载置具有对位用的掩模标记的薄膜掩模;摄像装置,其能够重叠地拍摄所述基板和所述薄膜掩模;对位装置,其通过所述摄像装置对所述基板标记和掩模标记进行拍摄,根据该拍摄到的基板标记和掩模标记进行基板与薄膜掩模的对位;加压装置,其根据由所述摄像装置拍摄到的基板和薄膜掩模,使薄膜掩模的期望位置发生变形;薄膜掩模固定装置,其以保持由该加压装置实现的薄膜掩模的变形的方式,将薄膜掩模固定到所述薄膜掩模基座;以及转移装置,其以保持所述薄膜掩模的变形的状态,将该薄膜掩模转移到薄膜掩模保持架上,该薄膜掩模保持架用于保持所述薄膜掩模并安装到曝光装置。
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