[发明专利]发光二极管模块的光轴测量方法

摘要

本发明提供了发光二极管（LED）模块的发光体的光轴测量方法，所述发光体的光轴是利用图像采集单元、通过采集作为检查对象的所述LED模块中所包含的具有LED和透镜的所述发光体的图像、且基于所采集到的图像而被测量的。该方法包括：将LED模块布置在检查位置处；向LED供电且同时将外部光线照射到发光体；采集发光体的图像且输出所采集到的图像；计算所采集到的图像上LED的位置和透镜的中心；以及通过比较LED的位置与透镜的中心来确定发光体的光轴。本发明能够向作为检查对象的LED模块的具有透镜的发光体供电且同时能够将外部光线照射到该发光体，并且能够采集该透镜的中心的图像以比较该透镜的内直径的中心与该LED的中心，从而测量出检查对象的光轴状态。

主权项

一种发光二极管模块亦即LED模块的发光体的光轴测量方法，所述发光体的光轴是基于所述LED模块的具有LED和透镜的所述发光体的图像而被测量的，其中通过利用图像采集单元来采集和输出所述发光体的图像，所述方法包括：将所述LED模块布置在检查位置处；向所述LED供应电能且同时将外部光线照射到所述发光体；采集所述发光体的图像且输出所采集到的图像；计算所采集到的图像上所述LED的位置和所述透镜的中心；以及通过比较所述LED的位置与所述透镜的中心，来确定所述发光体的光轴。