[发明专利]发光二极管模块的光轴测量方法

说明书

相关申请的交叉参考

本申请要求2013年5月14日向韩国知识产权局提交的韩国专利申请第10-2013-0054423号的优先权权益，因此将该韩国专利申请的全部内容以引用的方式并入本文。

技术领域

本发明涉及发光二极管模块的光轴测量方法，且更具体地，涉及这样一种发光二极管模块的光轴测量方法：在该方法中，通过使用针对所述发光二极管模块的发光体而采集到的图像，可以测量出所述发光二极管模块的光轴的状态。

背景技术

随着对显示装置的需求以各种方式日益增加，人们已经研究和投入使用了多种多样的显示装置，例如液晶显示器(LCD)装置、等离子显示面板(PDP)、电致发光显示器(ELD)和真空荧光显示器(VFD)。

在这些显示装置之中，LCD的液晶面板包括液晶层、以及中间夹着该液晶层且彼此面对的薄膜晶体管(TFT)基板和彩色滤光片基板。该液晶面板包括用于产生光的发光二极管(LED)模块，该模块作为为了显示图像而供应光的背光单元(backlight unit)。

LED模块具有在其中连续排列有多个发光器件的结构，且因为采用了大量的发光器件，所以制造成本由于发光器件的数量而增加，并且电能消耗也增加。因此，这些问题必须得到处理。

为了处理这些问题，曾经提出了一种包括发光体和覆盖该发光体的透镜的LED模块。

图1图示了LED模块10的结构的示例。

参照图1，LED模块10包括以预定间隔排列在具有预定长度和宽度的杆11上的多个发光体12。

图2是图示了图1所示的发光体12的形状的平面图，且图3是图示了图2所示的发光体12的结构的横断面图。

参照图2和图3，发光体12每一者均包括LED14和透镜16，透镜16覆盖着LED14且使得从LED14发出的光能够在预定的方向上均匀地照射。

透镜16可以是凸透镜以便会聚从LED14发出的光。此外，透镜16可以是球面透镜或非球面透镜。

虽然所设置的是包括单个LED14的集光器(collector)，但是也可以设有包括多个LED14的集光器。

在每个发光体12中，LED14的中心与透镜16的中心轴(以下称作光轴)必须对准。

如果LED14与透镜16的光轴没有对准，那么从发光体12中发出的光根据照射方向的不同就会是不均匀的，且这会降低其中采用了LED14和透镜16的背光单元的品质。

因此，必须检查用作背光单元的LED模块中所包括的发光体的光轴的对准状态。

为了提供上述必要性，韩国专利文献KR2011-55992公开了“an optical positional displacement measuring apparatus in camera device and measuring method thereof(相机设备中的光学位置偏移测量装置及其测量方法)”。

根据上述技术，通过利用图像采集单元来采集多个测量标记的图像，且通过利用这些测量标记的图像来测量出偏移。

根据上述技术，因为必须有用于显示多个测量标记的操作，所以处理的总数增多了。

发明内容

本发明提供了一种发光二极管(LED)模块的光轴测量方法，在该方法中，将预定的电能供应给作为检查对象的所述LED模块中所包含的发光体(所述发光体具有发光二极管(LED)和透镜)因而所述发光体处在发光状态，并且同时将外部光线照射到所述发光体，由此对所述透镜的边缘轮廓和所述LED的中心进行比较，从而测量出检查对象的光轴的状态。

本发明还提供了一种LED模块的光轴测量方法，在该方法中，将预定的电能供应给作为检查对象的所述LED模块的发光体因而所述发光体处在发光状态，且同时将外部光线照射到所述发光体，然后采集透镜的中心部的图像并且对该图像进行图像处理，由此对所述透镜的内圆周和所述LED的中心进行比较，从而测量出所述LED模块的光轴的状态。

根据本发明的一个方面，提供了一种发光二极管(LED)模块的发光体的光轴测量方法，所述发光体的光轴是基于所述LED模块的具有发光二极管(LED)和透镜的所述发光体的图像而被测量的，这里通过利用图像采集单元来采集和输出所述图像。所述方法包括：将所述LED模块布置在检查位置处；将电能供应给所述LED且同时将外部光线照射到所述发光体；采集所述发光体的图像且输出所采集到的图像；计算所采集到的图像上所述LED的位置和所述透镜的中心；以及通过比较所述LED的位置与所述透镜的中心，来确定所述发光体的光轴。