[发明专利]光谱测量系统有效
| 申请号： | 201310401610.8 | 申请日： | 2013-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN103499391A | 公开（公告）日： | 2014-01-08 |
| 发明（设计）人： | 徐宁汉;肖晓飞;白本锋;谭峭峰;金国藩 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01J3/42 | 分类号： | G01J3/42;G01J3/44;G01N21/31 |
| 代理公司： | 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 | 代理人： | 哈达 |
| 地址： | 100084 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光谱测量系统，主要包括：光源模组，用以产生单色光；斩光器，用以将光源模组产生的单色光分成一参考光及一测量光两路光束；参考样品模组，包括一参考样品池及一衰减片依次设置于所述参考光的光路上；反射模组，设置于所述测量光的光路上，以改变测量光入射到待测样品的方向，使入射到待测样品的测量光与从待测样品散射的测量光形成一夹角；样品池，设置于从所述反射模组出射的测量光的光路上，用以承载待测样品；以及光电探测及处理单元，用于对两束光进行处理，得到消光光谱及散射光谱。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种光谱测量系统，主要包括：光源模组，用以产生单色光；斩光器，用以将光源模组产生的单色光分成一参考光及一测量光两路光束；参考样品模组，包括一参考样品池及一衰减片依次设置于所述参考光的光路上，所述参考样品池用以承载参考样品，所述衰减片用以减弱从参考样品池出射的参考光；反射模组，设置于所述测量光的光路上，以改变测量光入射到待测样品的方向，使入射到待测样品的测量光与从待测样品出射的测量光形成一夹角；样品池，设置于从所述反射模组出射的测量光的光路上，用以承载待测样品；以及光电探测及处理单元，用于探测从样品池出射的测量光以及从衰减片出射的参考光，并对两束光进行处理，得到消光光谱及散射光谱。
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