[发明专利]光谱测量系统

说明书

技术领域

本发明涉及光谱信息测量领域，尤其涉及一种应用于消光光谱、散射光谱和吸收光谱信息测量的双光束光谱测量系统。

背景技术

随着技术的不断进步，人们对物质消光光谱信息的计量要求日益提高。在过去的数十年里，分光光度计作为光谱测量领域重要的科研仪器得到了广泛的应用。现有的分光光度计主要有：单光束，双光束和双波长三种类型。它们被广泛应用于许多行业，包括半导体，激光和光学制造，印刷和法医检验，以及在实验室进行的化学物质的研究等。

消光光谱包括散射光谱和吸收光谱，随着人类对物质特性的研究不断加深，人们发现物质的消光光谱、散射光谱和吸收光谱中含有大量的不同信息，这些信息可以帮助人们对诸如物质的成分进行定量分析，对物质的形态进行定量标定等。研究和发展对物质的消光光谱、散射光谱和吸收光谱分别进行定量测量的多功能双光束光谱系统，能够有效提高测量精度和分辨率，为科学技术的发展与应用提供了可靠的技术保障，具有重要的科研价值和巨大的经济价值。

然而，现有的分光光度计仅能对物质的反射、透射和荧光光谱进行直接测量，因此仅可以间接得到物质的消光光谱，并且，现有的分光光度计无法分离物质的吸收光谱和散射光谱，因此无法进行吸收光谱和散射光谱的定量测量。

发明内容

综上所述，确有必要提供一种能够测量消光光谱尤其是散射光谱信息测量的双光束光谱测量系统。

一种光谱测量系统，主要包括：光源模组，用以产生单色光；斩光器，用以将光源模组产生的单色光分成一参考光及一测量光两路光束；参考样品模组，包括一参考样品池及一衰减片依次设置于所述参考光的光路上，所述参考样品池用以承载参考样品，所述衰减片用以减弱从参考样品池出射的参考光；反射模组，设置于所述测量光的光路上，以改变测量光入射到待测样品的方向，使入射到待测样品的测量光与从待测样品散射的测量光形成一夹角；样品池，设置于从所述反射模组出射的测量光的光路上，用以承载待测样品；以及光电探测及处理单元，用于探测从样品池出射的测量光以及从衰减片出射的测量光，并对两束光进行处理，得到消光光谱及散射光谱。

与现有技术相比较，本发明提供的光谱测量系统，利用参考光及测量光双光束对待测样品进行测量，并通过改变测量光入射到待测样品的方向，实现了直接得到消光光谱、散射光谱，进而可推导出吸收光谱，并且使得测量结果误差很小。

附图说明

图1为本发明第一实施例提供的光谱测量系统的结构示意图。

图2为本发明第二实施例提供的光谱测量系统的结构示意图。

图3为本发明第三实施例提供的光谱测量系统的结构示意图。

图4为本发明第四实施例提供的光谱测量系统的结构示意图。

主要元件符号说明