[发明专利]一种超声相控阵成像探伤强度标定方法有效
| 申请号： | 201310399673.4 | 申请日： | 2013-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN103472140A | 公开（公告）日： | 2013-12-25 |
| 发明（设计）人： | 吴文焘;李平;肖灵 | 申请（专利权）人： | 中国科学院声学研究所 |
| 主分类号： | G01N29/30 | 分类号： | G01N29/30;G01B17/00 |
| 代理公司： | 北京亿腾知识产权代理事务所 11309 | 代理人： | 陈霁 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种超声相控阵成像探伤强度标定方法，该方法包括以下步骤：根据相控阵系统对探伤试块上的刻槽进行探测，获取扫描线回波信号；根据对扫描线回波信号进行归一化处理，获取不同角度相同深度刻槽和相同角度不同深度刻槽的回波的强度标定结果；根据不同角度相同深度刻槽和相同角度不同深度刻槽的回波的强度标定结果对相控阵超声成像结果进行标定。本发明可以完成对不同角度和不同深度表面上的刻槽进行超声像控阵成像标定，从而可以通过超声相控阵成像结果，对缺陷进行当量分析，定量评估缺陷大小，减少人员参与导致的主观检测问题，提高超声相控阵成像检测缺陷的检测率和检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 超声 相控阵 成像 探伤 强度 标定 方法 | ||
【主权项】：
一种超声相控阵成像探伤强度标定方法，该方法利用超声相控阵系统和探伤试块，对所述探伤试块上不同角度和不同深度的刻槽进行标定，所述探伤试块上每隔一段水平距离具有一组深度不同的刻槽，所述刻槽的位置相对于所述超声相控阵系统具有不同的角度，不同组刻槽之间的水平间隔按照相控阵系统角度的要求设置，其特征在于：根据所述相控阵系统对所述探伤试块上的刻槽进行探测，获取扫描线回波信号；根据对所述扫描线回波信号进行归一化处理，获取不同角度相同深度刻槽和相同角度不同深度刻槽的回波的强度标定结果；根据所述不同角度相同深度刻槽和所述相同角度不同深度刻槽的回波的强度标定结果对相控阵超声成像结果进行标定。
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