[发明专利]一种解决PCB板阻抗测试数据统计分析的方法在审
| 申请号： | 201310377467.3 | 申请日： | 2013-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN103425893A | 公开（公告）日： | 2013-12-04 |
| 发明（设计）人： | 吴修权;党杰;武宁 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F19/00 | 分类号： | G06F19/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 250014 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种解决PCB板阻抗测试数据统计分析的方法，通过采集PCB板阻抗测试数据，对阻抗测试数据进行等区间统计个数，设定目标值和容差参数，对本批次PCB板阻抗的离散度和偏离度等进行量化分析,得出品质管理学的相关参数——制程精密度Cp（CapabilityIndiesofProcess）、制程准确度Ca、制程能力指数Cpk，对照CPK指数等级的划分表，对本批次PCB板阻抗方面的制程好坏进行判断，并找到问题所在，以便后续进行改进。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 解决 pcb 阻抗 测试数据 统计分析 方法 | ||
【主权项】：
一种解决PCB板阻抗测试数据统计分析的方法，其特征是：通过采集PCB板阻抗测试数据，对阻抗测试数据进行等区间统计个数，设定目标值和容差参数，对PCB板阻抗的离散度和偏离度进行量化分析,得出品质管理学的相关参数——制程精密度Cp、制程准确度Ca、制程能力指数Cpk，对照CPK指数等级的划分表，对本批次PCB板阻抗方面的制程好坏进行判断。
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