[发明专利]一种基于条纹周期校正的复杂大物体三维测量方法有效
| 申请号： | 201310345986.1 | 申请日： | 2013-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN103398675A | 公开（公告）日： | 2013-11-20 |
| 发明（设计）人： | 伏燕军;何兴道;江光裕;夏桂锁 | 申请（专利权）人： | 南昌航空大学 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 南昌洪达专利事务所 36111 | 代理人： | 刘凌峰 |
| 地址： | 330000 江西省*** | 国省代码： | 江西;36 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种基于条纹周期校正的复杂大物体三维测量方法，其测量系统包括投影仪、测量支架、摄像机、计算机、参考平面；投影仪和摄像机放在测量支架上，投影仪和摄像机为同一高度；投影仪、摄像机分别用导线连接计算机；待测物体放在参考平面上。本发明的优点是：（1）提出了基于条纹周期校正的五步相移法；（2）提出了基于条纹周期校正的时间相位展开方法；（3）操作方便、实用，实现复杂大物体高精度的三维测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 条纹 周期 校正 复杂 物体 三维 测量方法 | ||
【主权项】：
一种基于条纹周期校正的复杂大物体三维测量方法，其测量系统包括投影仪、测量支架、摄像机、计算机、参考平面；其特征是测量方法为：投影仪和摄像机放在测量支架上；投影仪、摄像机分别用导线连接计算机；待测物体放在参考平面上；投影仪和摄像机为同一高度，投影仪光轴和摄像机光轴相交于于一点； X为参考平面的x轴, X′为虚拟参考平面的x轴，该平面与投影仪光轴垂直，X′′为投影仪平面的x轴。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南昌航空大学，未经南昌航空大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310345986.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：气体绝缘组合电器母线筒位移检测装置
- 下一篇：一种刀具形状测量装置
