[发明专利]一种基于条纹周期校正的复杂大物体三维测量方法

权利要求书

1. 一种基于条纹周期校正的复杂大物体三维测量方法，其测量系统包括投影仪、测量支架、摄像机、计算机、参考平面；其特征是测量方法为：投影仪和摄像机放在测量支架上；投影仪、摄像机分别用导线连接计算机；待测物体放在参考平面上；投影仪和摄像机为同一高度，投影仪光轴和摄像机光轴相交于于一点； X为参考平面的x轴, X′为虚拟参考平面的x轴，该平面与投影仪光轴垂直，X′′为投影仪平面的x轴。

2.根据权利要求1所述的一种基于条纹周期校正的复杂大物体三维测量方法，其特征在于：计算机内包含图像采集卡、投影软件、测量软件。

3.根据权利要求1所述的一种基于条纹周期校正的复杂大物体三维测量方法，其特征在于本发明要做好如下工作：

（1）参考平面上的条纹周期校正方法；

（2）基于条纹周期校正的五步相移法的理论模型；

（3）基于条纹周期校正的时间相位展开法的理论模型；

（4）大物体三维测量的理论模型。

4.根据权利要求3所述的一种基于条纹周期校正的复杂大物体三维测量方法，其特征在于大物体三维测量的理论模型包括：

（1）像点位移误差的校正；

（2）镜头畸变的校正；

（3）建立大物体三维测量的理论模型。