[发明专利]一种基于纹理显著性的微光图像目标检测方法有效
| 申请号: | 201310334161.X | 申请日: | 2013-08-02 |
| 公开(公告)号: | CN104346800A | 公开(公告)日: | 2015-02-11 |
| 发明(设计)人: | 柏连发;张毅;金左轮;韩静;岳江;陈钱;顾国华 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06K9/46 |
| 代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 朱显国 |
| 地址: | 210094 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | 本发明涉及一种基于纹理显著性的微光图像目标检测方法。本方法首先提取图像粗糙度特征图,进行二值化特征处理,合并属于同一目标区域,分别计算全局显著性、局部显著性和位置显著性,以此计算纹理显著性获得纹理显著图,最后利用纹理显著图进行图像目标检测。其核心内容是利用微光图像目标纹理与背景差异较大的特点,通过纹理显著性进行目标检测。利用本发明方法探测微光图像目标,目标轮廓性好、击中率高。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 基于 纹理 显著 微光 图像 目标 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种基于纹理显著性的微光图像目标检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:按如下方法提取图像粗糙度特征图:1.1计算图像中大小为4k×4k活动窗口中像素的平均灰度值,![]()
式中,k=1,2,…,Lmax;Lmax为k的最大值,;(i,j)为像数点坐标;f(i,j)是位于(i,j)的像素灰度值;当k=0时,取窗口尺寸大小为3×3;(x,y)为各平均灰度图Ak的坐标;1.2对于每个像素,分别计算它在水平和垂直方向上窗口之间的平均灰度差,水平方向平均灰度差计算方法如式(2a)所示,垂直方向平均灰度差计算方法如式(2b)所示,Ek,h(x,y)=|Ak'(x+ρ,y)‑Ak(x,y)| (2a)Ek,v(x,y)=|Ak'(x,y+ρ)‑Ak(x,y)| (2b)式中,k'=max(k‑Lb,0),Lb为两个窗口偏差尺度,Lb=Lmax‑α且Lb≥1;参数α取值如下:α=3,Lmax≥5;α=min(2,Lmax‑1),Lmax<5;ρ为两个窗口偏心距,ρ=2k'+1;1.3计算每一像素点的最佳尺寸,计算公式如式(3a)所示,Sbest=4kmax (3a)Ek=max(Ek,h,Ek,v) (3b)Emax=max(Ek),Emin=min(Ek) (3c)公式(3b)、(3c)为中间变量,式中,Ek表示每个尺寸k在水平和垂直方向平均灰度差值的最大值,Emax为像素点最大平均灰度差值,Emin为像素点最小平均灰度差值,kmax值按如下三种情形确定:(i)若k=0,E0>tM,取kmax=0,其中tM为E0所有像素点局部非零极大值的均值,否则转入(ii);(ii)若Numel(DEk<τ0)=Lmax‑1且Emax<tm,则取kmax=Lmax,其中Numel表示对满足条件的k计数,DEk=|Ek‑Ek‑1|,参数
参数
为Emin的平均值,否则转入(iii);(iii)kmax=argmax(Ek);1.4根据图像中每一像素点的最佳尺寸,计算该像素点的局部粗糙度,计算方法如式(4)所示,Fcrs(x,y)=Sbest(x,y) (4);步骤二:对特征图Fcrs进行二值化处理,并根据格式塔知觉组织规则‑接近律,对属于同一目标的两个区域进行合并;步骤三:依次使用公式(5a)、(5b)计算全局显著性GSiAi=aj,Amin<aj<Amax (5a)![]()
式中,aj为第j特征区域总像素数,Ai为重新标记后的区域,Amin是对aj限定的最小值,Amax是对aj限定的最大值;步骤四:计算局部显著性LSi,计算公式如式(6)所示,![]()
为第i特征区域在粗糙度特征图中的灰度均值,M为特征图最大灰度值;为得到区域局部环境信息,将特征区域沿区域边界外延r宽度像素,
是外延区域在粗糙度特征图中的灰度均值,r∈[5,7];步骤五:计算位置显著性PSi,计算公式如式(7)所示,![]()
式中,(X0,Y0)为图像中心坐标,(xi0,yi0)第i特征区域中心坐标,η为调节参数;步骤六:计算纹理显著性大小,以获得显著图,计算纹理显著性大小的方法如式(8)所示,![]()
式中,GSi,LSi,PSi均已归一化;步骤七:显著图中的各显著区域即为提取原目标的感兴趣区域,对各感兴趣区域进行注意焦点转移,注意焦点为各感兴趣区域的中心,注意焦点转移的先后次序为区域显著性大小TSi的递减顺序;根据抑制返回机制,已经注意过的区域立即被抑制,TSi值归零。
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