[发明专利]一种基于纹理显著性的微光图像目标检测方法有效

专利信息
申请号: 201310334161.X 申请日: 2013-08-02
公开(公告)号: CN104346800A 公开(公告)日: 2015-02-11
发明(设计)人: 柏连发;张毅;金左轮;韩静;岳江;陈钱;顾国华 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06K9/46
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 朱显国
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 纹理 显著 微光 图像 目标 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于纹理显著性的微光图像目标检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤一:按如下方法提取图像粗糙度特征图:

1.1计算图像中大小为4k×4k活动窗口中像素的平均灰度值,

Ak(x,y)=Σi=x-2kx+2k-1Σj=y-2ky+2k-1f(i,j)/(4k)2---(1)]]>

式中,k=1,2,…,Lmax;Lmax为k的最大值,;(i,j)为像数点坐标;f(i,j)是位于(i,j)的像素灰度值;当k=0时,取窗口尺寸大小为3×3;(x,y)为各平均灰度图Ak的坐标;

1.2对于每个像素,分别计算它在水平和垂直方向上窗口之间的平均灰度差,水平方向平均灰度差计算方法如式(2a)所示,垂直方向平均灰度差计算方法如式(2b)所示,

Ek,h(x,y)=|Ak'(x+ρ,y)-Ak(x,y)|     (2a)

Ek,v(x,y)=|Ak'(x,y+ρ)-Ak(x,y)|      (2b)

式中,

k'=max(k-Lb,0),Lb为两个窗口偏差尺度,Lb=Lmax-α且Lb≥1;

参数α取值如下:

α=3,Lmax≥5;

α=min(2,Lmax-1),Lmax<5;

ρ为两个窗口偏心距,ρ=2k'+1;

1.3计算每一像素点的最佳尺寸,计算公式如式(3a)所示,

Sbest=4kmax    (3a)

Ek=max(Ek,h,Ek,v)    (3b)

Emax=max(Ek),Emin=min(Ek)   (3c)

公式(3b)、(3c)为中间变量,式中,

Ek表示每个尺寸k在水平和垂直方向平均灰度差值的最大值,Emax为像素点最大平均灰度差值,Emin为像素点最小平均灰度差值,

kmax值按如下三种情形确定:

(i)若k=0,E0>tM,取kmax=0,其中tM为E0所有像素点局部非零极大值的均值,否则转入(ii);

(ii)若Numel(DEk<τ0)=Lmax-1且Emax<tm,则取kmax=Lmax,其中Numel表示对满足条件的k计数,DEk=|Ek-Ek-1|,参数参数为Emin的平均值,否则转入(iii);

(iii)kmax=argmax(Ek);

1.4根据图像中每一像素点的最佳尺寸,计算该像素点的局部粗糙度,计算方法如式(4)所示,

Fcrs(x,y)=Sbest(x,y)   (4);

步骤二:对特征图Fcrs进行二值化处理,并根据格式塔知觉组织规则-接近律,对属于同一目标的两个区域进行合并;

步骤三:依次使用公式(5a)、(5b)计算全局显著性GSi

Ai=aj,Amin<aj<Amax     (5a)

GSi=Aimax(Ai)---(5b)]]>

式中,aj为第j特征区域总像素数,Ai为重新标记后的区域,Amin是对aj限定的最小值,Amax是对aj限定的最大值;

步骤四:计算局部显著性LSi,计算公式如式(6)所示,

LSi=exp(|Ii-Ii_surround|/M)-1---(6)]]>

为第i特征区域在粗糙度特征图中的灰度均值,M为特征图最大灰度值;为得到区域局部环境信息,将特征区域沿区域边界外延r宽度像素,是外延区域在粗糙度特征图中的灰度均值,r∈[5,7];

步骤五:计算位置显著性PSi,计算公式如式(7)所示,

PSi=11+((y0i-Y0Y0)2+(x0i-X0X0)2)η/2---(7)]]>

式中,(X0,Y0)为图像中心坐标,(xi0,yi0)第i特征区域中心坐标,η为调节参数;

步骤六:计算纹理显著性大小,以获得显著图,计算纹理显著性大小的方法如式(8)所示,

TSi=13(GSi+LSi+PSi)---(8)]]>

式中,GSi,LSi,PSi均已归一化;

步骤七:显著图中的各显著区域即为提取原目标的感兴趣区域,对各感兴趣区域进行注意焦点转移,注意焦点为各感兴趣区域的中心,注意焦点转移的先后次序为区域显著性大小TSi的递减顺序;根据抑制返回机制,已经注意过的区域立即被抑制,TSi值归零。

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