[发明专利]一种测量荧光粉的PL光谱及PLE光谱的测试系统

摘要

本发明公开了一种用于测量荧光粉PL光谱及PLE光谱的测试系统，该测试系统引入了双重调制，包括飞秒激光器、锁相放大器、光栅光谱仪、光功率计和光路器件。其中，光路器件包括反射镜、透镜、衰减片和分束镜。所述飞秒激光器出射的激光分成两路，一路通过透镜聚焦在样品上，使被测样品产生的荧光通过凸透镜聚焦在光谱仪入射狭缝处，进入光谱仪，另外一路通过光功率计探测。锁相放大器的信号输入端与PMT探测器的输出端相连，参考信号输入端与飞秒激光器的TDG输出端相连，输出端与电压变换器相连，变换器与光栅光谱仪中的电子学系统相连。本发明通过电脑调节光学参量放大器，得到200nm～2000nm连续可调的单色光，同时在信号检测中增加锁相放大和解调过程，用于提高荧光粉PL光谱的测试精度。

主权项

一种测量荧光粉的PL光谱及PLE光谱的测试系统，包括飞秒激光器、锁相放大器、光栅光谱仪、光功率计和监控终端，其特征在于，还包括：光学参量放大器，用于调节飞秒激光器输出激光的光频率；分束镜，飞秒激光器所输出的激光经过光学参量放大器调节后，入射到分束镜上，经过分束镜分为两路激光，其中一路激光入射在待测荧光粉样品上，另一路激光由光功率计接收；待测荧光粉样品受激光激发出荧光，荧光经聚焦后入射到光栅光谱仪中；光栅光谱仪的信号输出端设有光电倍增管，光电倍增管与锁相放大器的信号输入端连接；锁相放大器的参考信号输入端与飞秒激光器中的TDG连接，锁相放大器的信号输出端连接有电压变化器；电压变化器与光栅光谱仪中的电子学系统连接，电子学系统与监控终端连接；所述光功率计与监控终端连接。