[发明专利]一种测量荧光粉的PL光谱及PLE光谱的测试系统

权利要求书

1.一种测量荧光粉的PL光谱及PLE光谱的测试系统，包括飞秒激光器、锁相放大器、光栅光谱仪、光功率计和监控终端，其特征在于，还包括：

光学参量放大器，用于调节飞秒激光器输出激光的光频率；

分束镜，飞秒激光器所输出的激光经过光学参量放大器调节后，入射到分束镜上，经过分束镜分为两路激光，其中一路激光入射在待测荧光粉样品上，另一路激光由光功率计接收；

待测荧光粉样品受激光激发出荧光，荧光经聚焦后入射到光栅光谱仪中；光栅光谱仪的信号输出端设有光电倍增管，光电倍增管与锁相放大器的信号输入端连接；锁相放大器的参考信号输入端与飞秒激光器中的TDG连接，锁相放大器的信号输出端连接有电压变化器；电压变化器与光栅光谱仪中的电子学系统连接，电子学系统与监控终端连接；

所述光功率计与监控终端连接。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于：所述的锁相放大器的时间常数，大于所述飞秒激光器的调制频率所对应的周期，小于所述飞秒激光器的调制频率所对应的周期的200倍。

3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于：所述的电压变换器为正负电压转换器件。

4.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于：

还包括衰减片，设于光学参量放大器和分束镜之间；还包括反射镜，用于改变飞秒激光器输出的激光光路方向；

还包括第一透镜和第二透镜，第一透镜设于荧光粉样品和分束镜之间，用于将激光聚焦到荧光粉样品上，第二透镜设于荧光粉样品和光栅光谱仪之间，用于聚焦荧光粉样品受激所发出的荧光。

5.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于：所述的飞秒激光器为飞秒染料激光器、飞秒固体激光器、飞秒半导体激光器或飞秒光纤激光器。

6.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于：所述飞秒激光器输出的激光经过光学参量放大器调节后，激光的波长落于200nm至2000nm的范围之内。

7.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于：所述监控终端为电脑。

8.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于：所述的光功率计为硅基或InGaAs基的光功率计。