[发明专利]利用磁场测量微振动的方法及系统

摘要

本发明公开了一种利用磁场测量微振动的方法，包括将永磁铁与微振动被测件固连，并通过磁场强度测量装置测量磁场强度变化量来计算得到微振动的最小角位移和线位移。本发明利用永磁铁与机械结构固结，机械振动带动永磁铁上磁偶极子位置、矢量方向的改变。这种磁源位置、磁偶极子指向变化造成固定磁强计上探测的磁场信号变化。探测到的磁场信号的变化是由于机械振动造成的，因而可以高精度地测量机械微振动。

主权项

一种利用磁场测量微振动的方法，包括以下步骤：将永磁铁与微振动被测件固连，并通过被测件周围设置的磁场强度测量装置测量正交三方向上的磁场强度变化量；通过磁场强度测量装置测量到的磁场强度变化量由以下数学关系和公式得到微振动的最小角位移和线位移，其中，最小角位移和线位移与磁场强度变化率成正比即： Δ θ min = K θ Δ B r B r Δr = K r ΔB r B r Kθ，Kr是系数，取值范围分别是0.28‑0.40，ΔBr随振动的磁场的变化量，表示为ΔBr（t，），t是时间。