[发明专利]一种两步相移干涉相位显微一次成像系统及方法

摘要

本发明公开了一种两步相移干涉相位显微一次成像系统及方法，基于典型的马赫-曾德尔干涉光路，采用侧向位移分光镜分别对样品光与参考光进行分光，利用波片作为相移器，通过单次曝光，可同时采集到两幅干涉图，经相应的相位恢复运算可快速实现相位成像，进而解构相位体的空间形态结构。本发明适用于所有的干涉相位显微成像系统，包括传统的同轴干涉、离轴干涉以及轻微离轴干涉。本发明在相位显微方面具有广泛的实用价值与应用前景，特别是在生物细胞形态识别应用领域。

主权项

一种两步相移干涉相位显微一次成像系统，采用马赫‑曾德尔干涉光路，其特征在于包括用于分光的第一侧向位移分光镜(9)和第二侧向位移分光镜(11)、用于旋转的第二反射镜(10)、用于改变参考光位相的波片(12)以及置于干涉系统后用于放大的显微镜(14)；沿着激光器(1)的输出方向依次连接由第一透镜(2)、针孔空间滤波器(3)、第二透镜(4)组成的透镜扩束准直系统以及第一分光镜(5)，所述的第一分光镜(5)将激光分为物光与参考光，沿物光方向依次放置有第一反射镜 (6)、载物台(7)、样品(8)、第一侧向位移分光镜(9)；沿参考光方向依次放置有第二反射镜(10)、第二侧向位移分光镜(11)；经所述第二侧向位移分光镜(11)得到的偏离原参考光束通道的参考光经过波片(12)；经所述第一位移分光镜(9)得到的两物光与经所述第二侧向位移分光镜(11)和波片(12)得到的两参考光通过第二分光镜 (13)，并经置于其后的的显微镜(14)放大，在CCD(15)上形成两相移干涉图，并存储在计算机(16)上。