[发明专利]一种覆盖静态和动态故障的存储器测试方法有效
| 申请号： | 201310248623.6 | 申请日： | 2013-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN103337258A | 公开（公告）日： | 2013-10-02 |
| 发明（设计）人： | 詹惠琴;周权;张显敞;崔喜乐;胡琳惠 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 温利平 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种覆盖静态和动态故障的存储器测试方法，在现有March SS算法的基础上，对March元素以及操作进行设计，使之能覆盖全部的静态故障，以及所有常见的动态故障即与动态读操作相关的动态故障以及与动态写操作相关的动态故障。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 覆盖 静态 动态 故障 存储器 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种覆盖静态和动态故障的存储器测试方法，其特征在于，按以下步骤进行：![]()
其中，Mi表示测试方法中的第i个March元素，Mi,j表示测试方法中第i个March元素的第j个操作，如M1,3表示第1个March元素中的第3步操作“w0”；![]()
表示按照地址升序方式进行测试，![]()
表示按照地址降序方式进行用测试，![]()
表示对于地址选择顺序没有特殊要求，也就是按照地址升序或者降序的方式进行测试都可以。
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