[发明专利]一种覆盖静态和动态故障的存储器测试方法

说明书

技术领域

本发明属于存储器故障测试技术领域，更为具体地讲，涉及一种覆盖静态和动态故障的存储器测试方法。 

背景技术

随着深亚微米等高科技技术的发展，存储器在SoC以及所有集成电路产品中所占的地位越来越重要。存储器芯片的容量越来越大，集成度也越来越高，使得存储器内部的晶体管越来越密集。存储芯片存在多种物理故障和缺陷。面对容量越来越大的存储器芯片，采用穷举测试方法是不现实的。因此，如何设计出故障覆盖率高、测试时间较短以及占用硬件资源相对较小的存储器测试方法成为了研究热点。 

1、现有存储器测试方法 

现在比较常用的存储器测试方法有MSCAN算法、Checker Pattern算法、GallopingPattern算法、March算法等。这些方法在测试时间、故障覆盖率上各自有不同的特点。MSCAN算法和Checker Pattern算法测试复杂度较低，因此这两个算法的测试时间也比较短，但它们的故障覆盖率都较低。GallopingPattern算法有较高的故障覆盖率，但是该算法的测试时间跟存储容量的平方成正比，测试时间过长。March算法及其衍生算法在测试时间和故障覆盖率上都达到较为合理的程度，因此，存储器测试算法的主流就是March算法。 

2、国内外研究现状 

在存储器测试方法方面，目前March及其仿真算法是这个领域的主流算法，研究人员在存储器测试方法方面所做的工作也主要围绕在March算法的改进上面。表1是存储器测试方法的发展情况。 

通过以上的存储器测试方法的发展情况，现有技术的存储器测试方法不能同时检测出存储器常见的所有静态故障以及所有常见的动态故障。 

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种覆盖静态和动态故障的存储器测试方法，以同时检测出所有静态故障以及所有常见的动态故障。 

为实现以上目的，本发明覆盖静态和动态故障的存储器测试方法，其特征在于，按以下步骤进行： 

其中，M_i表示测试方法中的第i个March元素，M_i,j表示测试方法中第i个March元素的第j个操作，如M_1,3表示第1个March元素中的第3步操作“w0”； 表示按照地址升序方式进行测试，表示按照地址降序方式进行用测试，表示对于地址选择顺序没有特殊要求，也就是按照地址升序或者降序的方式进行测试都可以。 

本发明的目的是这样实现的： 

本发明覆盖静态和动态故障的存储器测试方法，在现有March SS算法的基础上，对March元素以及操作进行设计，使之能覆盖全部的静态故障，以及所有常见的动态故障即与动态读操作相关的动态故障以及与动态写操作相关的动态故障。 

附图说明

图1是存储器常见故障的分类； 

图2是存储器测试一实例的原理； 

图3是HM6264芯片配置图。 

具体实施方式

下面结合附图对本发明的具体实施方式进行描述，以便本领域的技术人员更好地理解本发明。需要特别提醒注意的是，在以下的描述中，当已知功能和设计的详细描述也许会淡化本发明的主要内容时，这些描述在这里将被忽略。 

1、故障的分类以及动态故障的重要性 

分析故障必须用到故障原语，故障原语的基本形式为<S/F/R>，S表示敏化操作序列，F代表故障行为，R代表读操作的结果。 

对存储单元执行一系列读写操作来观察存储单元的功能状态的变化，这种方法可以来检测出存储器单元的功能故障。因此功能故障两种基本的组成部分为：对存储单元的操作序列以及相应单元的差错状态。如果一组操作序列能够让被检测单元表现出故障的状态，我们称之为“敏化操作序列”S(Sensitizing operation sequence)。被检测单元所表现出的异于正确的行为或状态我们称之为“故障行为”F(Faulty behavior)。