[发明专利]一种制备铜种子层的方法有效
| 申请号： | 201310221366.7 | 申请日： | 2013-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN103295958A | 公开（公告）日： | 2013-09-11 |
| 发明（设计）人： | 周军;朱亚丹;贺忻 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/768 | 分类号： | H01L21/768 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 竺路玲 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体制造领域，确切的说，具体涉及一种制备铜种子层的方法。本发明在使用传统工艺中制备完成铜种子层后，继续进行一除气工艺，可使通孔处沉积的铜流入通孔底部，然后再沉积一较薄的铜种子层，从而降低填充的深宽比，进而提高填充种子层底部的覆盖性，减少后续铜电镀时出现孔隙的几率，进而提高产品性能和良率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 制备 种子 方法 | ||
【主权项】：
一种制备铜种子层的方法，应用于后道铜互连工艺中，其特征在于，包括：提供一具有铜互连沟槽的衬底；于所述铜互连沟槽中沉积第一铜种子层；继续进行第二除气工艺后，于所述铜互连沟槽中沉积第二铜种子层；填充铜籽晶层充满所述铜互连沟槽后，继续铜电镀工艺；其中，所述第二铜种子层完全覆盖所述铜互连沟槽的底部及其侧壁。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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