[发明专利]一种室温下测量垂直腔面发射激光器腔模劈裂的方法

摘要

本发明涉及一种室温下测量垂直腔面发射激光器腔模劈裂的方法，通过光弹性调制器对垂直腔面发射激光器发出的激光进行调制，在光电探测器探测的光强信号中，包含被光弹调制器调制的沿两个互相垂直光学主轴方向偏振的激光出射模式的光强差，通过改变PEM的位相调制幅度φ0（实际上只需改变两次φ0的值），就可以将VCSEL器件沿两个互相垂直光学主轴方向偏振的激光出射模式的光谱分离出来，从而得到腔模劈裂值。本发明可以在室温下用具有普通分辨率的光谱系统准确获得垂直腔面发射激光器的腔模劈裂，且测量设备十分简单，操作步骤简便快捷，有利于日后推广应用。

主权项

1.一种室温下测量垂直腔面发射激光器腔模劈裂的方法，其特征在于，包括以下步骤：S01：提供一垂直腔面发射激光器，并在所述垂直腔面发射激光器的光路上依次设置两个聚焦透镜、一光弹性调制器、一起偏器、一单色仪和一探测器；S02：提供一脉冲电流源为所述垂直腔面发射激光器注入正向电流；S03：调整所述单色仪的进光狭缝大小；S04：提供一光弹性调制器的控制器控制所述光弹性调制器设置一波长值和一位相延迟值；S05：提供一计算机控制所述单色仪进行波长扫描；S06：提供一数据采集卡用以将所述探测器获取的一组不同波长下的光强值I₁传输到所述计算机上；S07：所述光弹性调制器的控制器控制所述光弹性调制器设置另一位相延迟值；S08：所述计算机控制所述单色仪进行波长扫描；S09：所述数据采集卡将所述探测器获取的另一组不同波长下光强值I₂传输到所述计算机上；S10：所述计算机根据所述两组光强值I₁和I₂获得所述垂直腔面发射激光器沿[110]和方向偏振的两种光学模式对应的光谱I_[110]和S11：根据所述光谱I_[110]和获得所述垂直腔面发射激光器沿[110]和方向偏振的两种光学模式对应的腔模能量E_[110]和从而获得腔模劈裂值