[发明专利]减小图像传感器电学互扰的方法在审

专利信息
申请号: 201310164259.5 申请日: 2013-05-07
公开(公告)号: CN103247649A 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 田志;金秋敏 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 竺路玲
地址: 201210 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种减小图像传感器电学互扰的方法,通过在制备图像传感器的工艺过程中的背面减薄工艺前,淀积一具有拉应力的应力层,并经过退火工艺,等离子或者紫外线修复工艺以获得更大的拉应力,使衬底和外延层以及晶体管受到拉应力,从而克服现有技术中由于STI的压应力导致电子转移减慢,影响光电二极管中的响应速度的问题,同时也克服现有技术中由于外延层存在压应力导致电子迁移率降低,在进行第二次光照时,会产生电学互扰的问题,进而提高电子迁移率,减小电学干扰问题的发生机率,提高图像传感器的良率。
搜索关键词: 减小 图像传感器 电学 方法
【主权项】:
一种减小图像传感器电学互扰的方法,应用于制造图像传感器的工艺中,提供一所述图像传感器背面减薄前的半导体器件,所述半导体器件包括一衬底,且该衬底的上表面形成有所述图像传感器的结构,其特征在于,包括:于所述衬底的下表面制备一应力层,以增大所述图像传感器结构的应力;去除所述应力层后,继续所述半导体器件背面的减薄工艺。
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