[发明专利]一种实现碎片率自动化统计的方法有效
申请号: | 201310161070.0 | 申请日: | 2013-05-03 |
公开(公告)号: | CN103258910A | 公开(公告)日: | 2013-08-21 |
发明(设计)人: | 张博;安立兵;李跃;李骥云;张鹏飞 | 申请(专利权)人: | 天津英利新能源有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;G06K17/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 魏晓波 |
地址: | 301510 天津市滨海新区津汉公*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种实现碎片率自动化统计的方法,在该方法中通过一号扫码器依次扫描组件上的条形码,总控制中心自动把经扫描的组件中的电池片数进行叠加,最终得到电池片总数,另外,总控制中心将每块组件中的碎片数进行保存,在后期需要统计碎片率时,总控制中心会自动把所有组件中的碎片数进行叠加,得到碎片总数,再用碎片总数比上电池片总数,最终得到碎片率。这样实现了碎片率的自动化统计,简化了人工统计碎片率的步骤,提高了工作效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 实现 碎片 自动化 统计 方法 | ||
【主权项】:
一种实现碎片率自动化统计的方法,其特征在于,所述方法包括:S1:使若干组件依次进行如S11‑S16步骤,如果所述若干组件都完成了如S11‑S16的步骤,则进入步骤S2;S11:在组件上铺设与所述组件对应的条形码;S12:用一号扫码器扫描所述条形码,致使数据库中的电池片总数增加一个设定值,并保存;S13:人工检测所述组件是否有问题电池片,若否,进入步骤S14,若是,对所述组件进行问题信息的标记,进入步骤S15;S14:EL测试所述组件是否有问题电池片,若否,使所述组件进入后续工艺流程,若是,对所述组件进行问题信息的标记,进入步骤S15;S15:根据所述组件上标记的问题信息对所述组件进行改片;S16:用四号扫码器扫描经过改片的组件上的条形码,致使总控制中心将所述数据库中和所述组件对应的统计信息发送给四号控制面板显示,在所述统计信息中输入所述组件中碎片的数量,并保存,然后进入步骤S13;S2:操作所述总控制中心,使所述总控制中心自动统计出碎片率,所述碎片率为所述若干组件的碎片数量之和与所述若干组件的电池片总数的比值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津英利新能源有限公司,未经天津英利新能源有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310161070.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:视频质量检测的方法及系统
- 下一篇:一种标清电视转码的实现方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的