[发明专利]一种实现碎片率自动化统计的方法有效
申请号: | 201310161070.0 | 申请日: | 2013-05-03 |
公开(公告)号: | CN103258910A | 公开(公告)日: | 2013-08-21 |
发明(设计)人: | 张博;安立兵;李跃;李骥云;张鹏飞 | 申请(专利权)人: | 天津英利新能源有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;G06K17/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 魏晓波 |
地址: | 301510 天津市滨海新区津汉公*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 实现 碎片 自动化 统计 方法 | ||
技术领域
本发明涉及太阳能光伏电池领域,特别涉及一种实现碎片率自动化统计的方法。
背景技术
太阳能光伏组件从下到上总共有五层结构,分别是玻璃、下层EVA(乙烯-醋酸乙烯共聚物)、电池片、上层EVA和背板。单片的电池片经由焊接机焊接成电池串,然后经由敷设机将玻璃、下层EVA、电池串依次铺设好,最后经人工铺设上层EVA、背板以及序列号。
在焊接机焊接电池串时,或在敷设机对玻璃、下层EVA、电池串进行铺设时,经常会导致质地非常脆的电池片碎裂、崩边、崩角等问题的出现。
在进行人工敷设上层EVA和背板时,如果敷设人员发现上述问题,会在该组件的质量跟踪单上写上不合格的原因,然后使该组件转入到改片工序。改片人员会根据该组件质量跟踪单上的内容,对该组件中相应的电池片进行返工,例如将出问题的电池片拆下,重新换上新的电池片等。
如果在人工敷设时没有发现问题,而在人工敷设之后的EL测试(EL测试:通过给电池组件加电流,使电池片发光从而发现电池缺陷。)中发现问题,EL测试人员会在该组件的质量跟踪单上写上不合格的原因,然后使该组件转入改片工序,改片人员根据质量跟踪单上的不合格原因对该组件进行返工。改片完成后,改片人员需要在质量跟踪单上填写改片信息,然后通过传送线的上板工位将组件下转,再次经人工敷设和EL测试合格后方可流入层压工序。
上述改片信息包括:组件序列号、碎片的数量、改片员姓名、改片的数量以及位置等,这些是对后期碎片率的统计和改片员量化考核的重要数据来源。
碎片率为电池片碎片总数量占电池片总数量的百分比,在后期进行碎片率统计时,除了需要统计出电池片总数,还需要工作人员根据每块组件上的质量跟踪单上的碎片数量统计出碎片总数,然后计算出碎片率,显然这种后期统计碎片率的方法比较繁琐,从而导致工作人员的工作效率降低。
因此,如何实现碎片率的自动化统计,从而简化工作人员统计碎片率时的步骤,提高工作效率,是本领域技术人员亟待解决的关键性问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种实现碎片率自动化统计的方法,该方法能自动统计出碎片率,从而简化工作人员统计碎片率时的步骤,提高工作效率。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:
一种实现碎片率自动化统计的方法,所述方法包括:
S1:使若干组件依次进行如S11-S16步骤,如果所述若干组件都完成了如S11-S16的步骤,则进入步骤S2;
S11:在一块组件上铺设与所述组件对应的条形码;
S12:用一号扫码器扫描所述条形码,致使数据库中的电池片总数增加一个定值,并保存;
S13:人工检测所述组件是否有问题电池片,若否,进入步骤S14,若是,对所述组件进行问题信息的标记,进入步骤S15;
S14:EL测试所述组件是否有问题电池片,若否,使所述组件进入后续工艺流程,
若是,对所述组件进行问题信息的标记,进入步骤S15;
S15:根据所述组件上标记的问题信息对所述组件进行改片;
S16:用四号扫码器扫描经过改片的组件上的条形码,致使总控制中心将所述数据库中和所述组件对应的统计信息发送给四号控制面板显示,在所述统计信息中输入所述组件中碎片的数量,并保存,然后进入步骤S13。
S2:操作所述总控制中心,使所述总控制中心自动统计出碎片率,所述碎片率为所述若干组件的碎片数量之和与所述若干组件的电池片总数的比值。
优选地,所述步骤S12中所述定值为所述组件中电池片的个数值,每一块所述组件中的电池片个数均相等。
优选地,所述组件的问题信息包括所述组件中问题电池片的位置、数量以及出现问题的原因。
优选地,所述步骤S16中的所述碎片包括:碎裂的电池片、崩边的电池片、崩角的电池片。
优选地,所述统计信息还包含改片信息,
所述步骤S16中所述在所述统计信息中输入碎片数量,还包括,在所述统计信息中输入改片信息,
所述改片信息包括改片人员姓名、改片日期、改片的数量、改片的位置以及改片的原因。
优选地,所述步骤S16中的所述统计信息还包含所述步骤S13中的所述问题信息,
所述步骤S13中所述对所述组件进行问题信息的标记,包括:
用二号扫码器扫描所述组件上的条形码,致使所述总控制中心将所述统计信息发送给二号控制面板显示,在所述统计信息中输入所述问题信息并保存,
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H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的