[发明专利]计算机系统中基于图像处理实现SIM卡缺陷检测的方法

摘要

本发明涉及一种计算机系统中基于图像处理实现SIM卡缺陷检测的方法，属于SIM卡生产技术领域。该方法在对目标模板和参考模板进行二值化处理后，对目标模板和参考模板进行KL距离计算获得最佳匹配模板，对最佳匹配模型进行网格划分，并对每个网格空间采用空间金子塔的匹配计算。从而获得SIM卡损伤所在的网格位置，进而利用网格位置表征出SIM卡在生产过程中产生损伤的位置，实现了基于图像处理的，快速且准确的SIM卡缺陷检测，且本发明的计算机系统中基于图像处理实现SIM卡缺陷检测的方法，实现方式简便，检测效果可靠，实现成本也相对低廉。

主权项

一种计算机系统中基于图像处理实现SIM卡缺陷检测的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤：（1）系统获取SIM卡图像和参考模板；（2）系统将所述的SIM卡图像转换为灰阶空间图像；（3）系统选取所述的SIM卡图像中与所述的参考模板尺寸相同的区域为目标模板；（4）系统对所述的目标模板和参考模板进行二值化处理，获得二值化处理结果；（5）系统对所述的目标模板和参考模板进行KL距离计算，获得KL距离计算结果；（6）系统根据所述的二值化处理结果和KL距离计算结果确定待检测的SIM卡区域；（7）系统将所述的待检测的SIM卡区域与所述的参考模板进行相同的网格划分；（8）系统将所述的待检测的SIM卡区域的网格与对应的参考模板的网格进行匹配计算；（9）系统根据所述的匹配计算结果标记所述的待检测的SIM卡区域内的SIM卡缺陷位置。