[发明专利]替代栅极鳍片结构和方法有效
申请号: | 201310045924.9 | 申请日: | 2013-02-05 |
公开(公告)号: | CN103247685A | 公开(公告)日: | 2013-08-14 |
发明(设计)人: | B·A·安德森;A·布赖恩特;E·J·诺瓦克 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/423;H01L29/417;H01L29/10;H01L21/336;H01L21/28 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 于静;张亚非 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明涉及替代栅极鳍片结构和方法。鳍片场效应晶体管(鳍片FET)结构和制造包括硅鳍片的鳍片FET的方法,该硅鳍片包括沟道区域和在沟道区域的每个端部上形成的源极/漏极(S/D)区域,其中沟道区域的整个底表面接触下绝缘体的顶表面并且S/D区域的底表面接触下硅锗(SiGe)层的顶表面的第一部分。鳍片FET结构还包括外部S/D区域,其接触每个S/D区域的顶表面和两个侧表面以及下SiGe层的顶表面的第二部分。鳍片FET结构还包括替代栅极或者栅极叠层,其接触在沟道区域的顶表面和两个侧表面上形成的保形介质,该栅极叠层被设置在下绝缘体之上且不在下SiGe层的第一和第二部分之上,其中替代栅极与外部S/D区域通过保形介质电绝缘。 | ||
搜索关键词: | 替代 栅极 结构 方法 | ||
【主权项】:
一种鳍片场效应晶体管(鳍片FET)结构,包括:硅鳍片,包括沟道区域和在所述沟道区域的每个端部上形成的源极/漏极(S/D)区域,所述沟道区域的整个底表面接触下绝缘体的顶表面,以及所述S/D区域的底表面接触下硅锗(SiGe)层的顶表面的第一部分;外部S/D区域,接触每个所述S/D区域的顶表面和两个侧表面以及所述下SiGe层的顶表面的第二部分;栅极叠层,接触在所述沟道区域的顶表面和两个侧表面之上形成的保形介质,并设置在所述下绝缘体之上且不在所述下SiGe层的所述第一和第二部分之上,所述栅极叠层与所述外部S/D区域通过所述保形介质电绝缘。
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