[发明专利]替代栅极鳍片结构和方法有效

专利信息
申请号: 201310045924.9 申请日: 2013-02-05
公开(公告)号: CN103247685A 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: B·A·安德森;A·布赖恩特;E·J·诺瓦克 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/423;H01L29/417;H01L29/10;H01L21/336;H01L21/28
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 于静;张亚非
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及替代栅极鳍片结构和方法。鳍片场效应晶体管(鳍片FET)结构和制造包括硅鳍片的鳍片FET的方法,该硅鳍片包括沟道区域和在沟道区域的每个端部上形成的源极/漏极(S/D)区域,其中沟道区域的整个底表面接触下绝缘体的顶表面并且S/D区域的底表面接触下硅锗(SiGe)层的顶表面的第一部分。鳍片FET结构还包括外部S/D区域,其接触每个S/D区域的顶表面和两个侧表面以及下SiGe层的顶表面的第二部分。鳍片FET结构还包括替代栅极或者栅极叠层,其接触在沟道区域的顶表面和两个侧表面上形成的保形介质,该栅极叠层被设置在下绝缘体之上且不在下SiGe层的第一和第二部分之上,其中替代栅极与外部S/D区域通过保形介质电绝缘。
搜索关键词: 替代 栅极 结构 方法
【主权项】:
一种鳍片场效应晶体管(鳍片FET)结构,包括:硅鳍片,包括沟道区域和在所述沟道区域的每个端部上形成的源极/漏极(S/D)区域,所述沟道区域的整个底表面接触下绝缘体的顶表面,以及所述S/D区域的底表面接触下硅锗(SiGe)层的顶表面的第一部分;外部S/D区域,接触每个所述S/D区域的顶表面和两个侧表面以及所述下SiGe层的顶表面的第二部分;栅极叠层,接触在所述沟道区域的顶表面和两个侧表面之上形成的保形介质,并设置在所述下绝缘体之上且不在所述下SiGe层的所述第一和第二部分之上,所述栅极叠层与所述外部S/D区域通过所述保形介质电绝缘。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国际商业机器公司,未经国际商业机器公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310045924.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top