[发明专利]测量设备装置的检查、相应的测量设备装置和检查装置有效
申请号: | 201310040147.9 | 申请日: | 2013-02-01 |
公开(公告)号: | CN103245375B | 公开(公告)日: | 2017-09-01 |
发明(设计)人: | H.布罗克豪斯 | 申请(专利权)人: | 克洛纳测量技术有限公司 |
主分类号: | G01D21/00 | 分类号: | G01D21/00;G01F25/00;G01F1/58 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 杜荔南,刘春元 |
地址: | 德国杜*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 测量设备装置的检查、相应的测量设备装置和检查装置。描述和示出了一种用于检查测量设备装置(1)的方法,其中测量设备装置(1)包括测量设备(2),该测量设备(2)从确定测量参数出发生成可从截取位置(3)作为截取信号截取的输出信号。本发明所基于的任务是,说明一种用于监视测量设备装置的方法,该方法描述了在不中断测量或测量值的传送情况下的内联检查。在所讨论的方法中,该任务通过如下方式来解决作用于测量设备(2),使得测量设备(2)生成测试信号作为输出信号,并且将输出信号和/或依赖于其的信号影响为使得截取信号是可预先给定的调整信号。 | ||
搜索关键词: | 测量 设备 装置 检查 相应 | ||
【主权项】:
一种用于检查测量设备装置(1)的方法,其中测量设备装置(1)包括至少一个测量设备(2),并且其中测量设备(2)从确定至少一个测量参数出发生成至少一个能从截取位置(3)作为截取信号截取的输出信号,其特征在于,作用于测量设备(2),使得测量设备(2)生成测试信号作为输出信号,并且将所述输出信号和/或依赖于所述输出信号的信号影响为使得所述截取信号是能预先给定的调整信号。
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