[发明专利]测量设备装置的检查、相应的测量设备装置和检查装置有效
申请号: | 201310040147.9 | 申请日: | 2013-02-01 |
公开(公告)号: | CN103245375B | 公开(公告)日: | 2017-09-01 |
发明(设计)人: | H.布罗克豪斯 | 申请(专利权)人: | 克洛纳测量技术有限公司 |
主分类号: | G01D21/00 | 分类号: | G01D21/00;G01F25/00;G01F1/58 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 杜荔南,刘春元 |
地址: | 德国杜*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 设备 装置 检查 相应 | ||
技术领域
本发明涉及一种用于检查包括至少一个测量设备的测量设备装置的方法。在此,该测量设备从确定至少一个测量参数出发生成至少一个可从截取位置作为截取信号被截取的输出信号。本发明还涉及一种具有至少一个测量设备和截取位置的测量设备装置。此外,本发明涉及一种用于检查测量设备装置的检查装置。
背景技术
在现代的过程自动化中,过程的控制或调节的安全性以及为此使用的现场设备(例如用于确定和/或监视测量或过程参数的传感器、或者用于控制或调节过程的执行器)的可靠性具有高的和增长的重要性。尤其是在安全关键的应用中需要测量或显示设备生成正确的、即与所监视的状态相适应的输出信号并且在下级或上级单元中正确地处理这些输出信号。
因此,为了能够做出关于过程自动化的设备的可靠性或安全性的声明,执行各个部件或整个设备的功能测试或检验。一种可能性在于,起动被现场设备监视并例如还被控制的系统的不同状态,并且分析由测量设备生成的信号。因此例如其中介质的料位应被监视的储罐在功能检查期间被填充或被排空。一方面,这部分地是成本非常高的。另一方面,不总是可能或有时必须甚至防止要监视的系统的特殊状态存在。如果例如强制性地需要识别或防止用危险物质装满容器,则该状态不能以测试方式被起动。因此,在测试时优选地通过例如将相应信号馈入到现场设备中来模拟状态或测量参数的与之联系的值的存在。
WO 2010/006897 A1描述了一种用于检验现场设备的方法并且在此处理的问题是,在测量设备的功能测试期间生成的输出信号未反映真实测量值。因此,在测量参数具有固定和已知值的时间段中执行测量设备的测试。这优选地在也对测量设备的下级单元或整个设备进行测试的时间进行。也就是将不需要进行测量的时间段用于测试,因为已知测量参数不改变或者因为不进行由对上级单元的测试引起的对测量信号的实际分析。其缺点是,内联测量、即过程运行期间的测量是不可能的,因为为了检查实际测量被停止或中断。
在US 5,481,200中,监视与双导线电流回路连接的现场设备的输出端,其方式是通过在电流回路中连接两个不同电流来确定回路电阻。据此应识别现场设备或特别是信号输出端的故障。其缺点是,通过连接不同电流不能进行与测量值相关的电流值的传输,也就是说,实际测量值的输出停止。
在US 2011/0148431 A1中描述了可以如何作为例如测量设备的一部分来监视电流转换器。为此向电流转换器的输入端提供测试信号并且将输出信号与额定信号相比较。其缺点是,同样造成了阻碍要测试对象运转的测试状态。
发明内容
因此,本发明所基于的任务是,说明一种用于监视测量设备装置的方法——以及除了相应的测量设备装置以外还说明一种检查装置,所述方法描述了在不中断测量或测量值的传送情况下的内联检查。
解决之前导出和示出的任务的根据本发明的方法首先以及基本上由下列步骤来表征:在一个步骤中作用于测量设备,使得测量设备生成测试信号作为输出信号。在下一步骤中,将输出信号和/或依赖于其的信号影响为,使得截取信号是可预先给定的调整信号。在测量设备装置中,测量设备在正常情况下、即在不存在对测量设备的检验的情况下从要测量和/或要监视的测量参数的测量出发生成测量信号并且例如通过信号输出端输出该测量信号作为输出信号。接着,从截取位置截取输出信号并且将其作为截取信号例如传递给上级单元。
在简单情况下,测量设备将其输出信号输出到与测量设备连接的双导线线路上,从所述双导线线路又可以截取输出信号作为截取信号。在根据本发明的方法中,在检查时将测量设备操控为使得输出信号是测试信号。在此,测试信号可以是预先给定的信号,该信号例如是在存在要测量的测量参数的特定的、但是优选非当前的值时的输出信号。在另一构型中,测试信号可以是如下的信号:该信号是由测量设备从测量参数的模拟值本身出发生成或者从测量参数中导出的。在第一变型方案中,例如在检查测量设备期间直接将信号作为测试信号提供到测量设备的信号输出端,而在第二变型方案中,预先给定或模拟测量参数,并且测量设备从所模拟的测量参数中生成测试信号作为输出信号。所述变型方案的区别尤其是在于,以直至何种深度来检验测量设备:要么基本上仅仅检验信号输出的区域、要么还检验从实际测量参数中生成输出信号的部件。
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