[发明专利]X射线荧光分析测定水泥成分的方法及系统

摘要

本发明是关于X射线荧光分析测定水泥成分的方法及系统。所述方法包括：制备标准水泥样品熔片和待测水泥样品熔片，并测量X荧光强度；将待测水泥样品测得的各个元素强度转化为稀释比为5的强度值，计算待测水泥样品各化学成分的含量，计算待测水泥样品各化学成分的含量总和；并判断待测水泥样品各化学成分的含量总SUM和与标准样品中各化学成分的含量总和SUMS之差是否在预设范围内，多次计算，当所述之差位于预设范围内时，该次计算得到的质量分数即为测定结果。所述X射线荧光分析系统，其包括的数据处理装置执行上述方法中的某些步骤。本发明的方法及系统操作过程简便易行，适于实用。

主权项

一种X射线荧光分析测定水泥成分的方法，其特征在于其包括：步骤1，制备标准水泥样品熔片，该熔片的稀释比为5；步骤2，制备待测水泥样品熔片；步骤3，用X射线荧光仪测量上述标准水泥样品熔片和待测水泥样品熔片中各化学成分对应元素的强度；步骤4，按照式（1）将待测水泥样品测得的各个元素强度转化为稀释比为5的强度值，$I_{i,5}=I_i\left(\frac{({\mathrm{\α}}_{i,f}+1)(1+R)-{\mathrm{\α}}_{i,f}}{5{\mathrm{\α}}_{i,f}+6}\right)---\left(1\right);$式中：I_i,5为稀释比为5的待测试水泥样品熔片中化学成份i对应元素的X射线荧光强度，R为待测试水泥样品熔片的稀释比，I_i为待测试水泥样品熔片中化学成份i对应元素的X射线荧光强度，α_i,f为影响系数，按照式（2）计算待测水泥样品各化学成分的含量，$C_i=I_{i,5}\frac{C_{i,s}}{I_{i,s}}---\left(2\right),$式中：C_i为待测试水泥样品中化学成份i的质量分数，I_i,s为标准准样品化学成份i对应元素的X射线荧光强度，C_i,s为标准样中化学成份i的质量分数；按照式（3）计算待测水泥样品各化学成分的含量总和SUM，SUM=∑C_i                 (3)；步骤5，给R赋值，并按照步骤4计算得到待测试水泥样品中化学成份i的质量分数C_i以及待测水泥样品各化学成分的含量总和SUM，并判断待测水泥样品各化学成分的含量总和SUM与标准样品中各化学成分的含量总和SUMS之差SUM‑SUMS是否在预设范围内；如果是，则上述计算得到的待测试水泥样品中化学成份i的质量分数C_i即为测定结果；如果否，则执行步骤6；步骤6，重复步骤5，其中重新给R赋值，当待测水泥样品各化学成分的含量总和SUM与标准样品中各化学成分的含量总和SUMS之差在预设范围内时，该次计算得到的质量分数C_i即为测定结果。