[发明专利]X射线荧光分析测定水泥成分的方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种水泥成分测定技术,特别是涉及一种采用X射线荧光分析测定水泥成分的方法及系统。

背景技术

目前，熔融法X射线荧光分析水泥样品时，首先要制备系列校准样品，用固定的标准稀释比将校准样品熔融制备成玻璃熔片，然后通过测量系列校准样品的X射线荧光强度制作工作曲线。然后根据水泥试样及熔剂在熔融温度下的烧失量，按照标准稀释比的要求，准确地定量称取试样与熔剂，任何称量的不准确与熔样过程中样品或熔剂的损失及熔样设备的温度误差与温度不均匀性都会为测定结果造成误差。因此，对水泥系列校准样品、熔样设备、熔剂烧失量及操作人员的技能都有较高要求。

有鉴于上述现有的X射线荧光分析中存在的缺陷，本发明人积极加以研究创新，以期创设一种新的X射线荧光分析测定水泥成分的方法以改进上述缺陷。

发明内容

本发明的主要目的在于，提供一种新的X射线荧光分析测定水泥成分的方法及系统，使其操作过程更加简便易行，从而适于实用。

为实现上述目的，本发明提出一种X射线荧光分析测定水泥成分的方法，其包括：

步骤1，制备标准水泥样品熔片，该熔片的稀释比为5；

步骤2，制备待测水泥样品熔片；

步骤3，用X射线荧光仪测量上述标准水泥样品熔片和待测水泥样品熔片中各化学成分对应元素的强度；

步骤4，按照式（1）将待测水泥样品测得的各个元素强度转化为稀释比为5的强度值，

Ii,5=Ii((αi,f+1)(1+R)-αi,f5αi,f+6)---(1);]]>

式中：I_i,5为稀释比为5的待测试水泥样品熔片中化学成份i对应元素的X射线荧光强度，R为待测试水泥样品熔片的稀释比，I_i为待测试水泥样品熔片中化学成份i对应元素的X射线荧光强度，α_i,f为影响系数，

按照式（2）计算待测水泥样品各化学成分的含量，

Ci=Ii,5Ci,sIi,s---(2),]]>