[发明专利]一种超衍射材料光传输特性的测试分析方法有效
申请号: | 201310035988.0 | 申请日: | 2013-01-30 |
公开(公告)号: | CN103149153A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 罗先刚;王长涛;赵泽宇;王彦钦;陶兴;黄成;蒲明薄;杨欢;刘利芹;杨磊磊 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 梁爱荣 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种超衍射材料光传输特性的测试分析方法,利用测试激发光栅、待测超衍射材料样品和检测光栅实现测试分析,其特点是:光源从激发光栅侧入射,产生多级携带高空间频率的衍射波,然后通过待测超衍射材料样品,样品的透射波与检测光栅差频形成携带待测样品传输特性的干涉条纹。并可以通过旋转待测样品测试不同空间频率衍射波的透射光强或者干涉条纹对比度,以确定待测超衍射材料样品的光传输特性。本发明方法结构简洁,设计灵活,且测试方法便捷,实时性强。 | ||
搜索关键词: | 一种 衍射 材料 传输 特性 测试 分析 方法 | ||
【主权项】:
一种超衍射材料光传输特性的测试分析方法,其特征在于测试分析的步骤包括:步骤S1:利用激发光栅和检测光栅组成测试光路;步骤S2:将光源入射光经偏振片调整为电场方向与激发光栅方向垂直的线偏振模式照射到激发光栅,使激发光栅产生多级次的携带空间频率的衍射波并通过旋转待测超衍射材料样品,得到激发光栅产生的不同空间频率衍射波的传输特性,其中转动角度与产生的空间衍射频率kx满足: k x = k 0 sin θ + 2 π T ex n , 其中n=0,±1,±2,.......,k0为自由空间波矢,θ为斜入射角度,Tex为激发光栅周期,n表示激发光栅的衍射级次;步骤S3:待测超衍射材料样品的透射波与检测光栅差频形成携带待测超衍射材料样品传输特性的干涉条纹并利用物镜进行观测,以此确定超衍射材料的光学传输特性。
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