[发明专利]一种超衍射材料光传输特性的测试分析方法有效

专利信息
申请号: 201310035988.0 申请日: 2013-01-30
公开(公告)号: CN103149153A 公开(公告)日: 2013-06-12
发明(设计)人: 罗先刚;王长涛;赵泽宇;王彦钦;陶兴;黄成;蒲明薄;杨欢;刘利芹;杨磊磊 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 梁爱荣
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种超衍射材料光传输特性的测试分析方法,利用测试激发光栅、待测超衍射材料样品和检测光栅实现测试分析,其特点是:光源从激发光栅侧入射,产生多级携带高空间频率的衍射波,然后通过待测超衍射材料样品,样品的透射波与检测光栅差频形成携带待测样品传输特性的干涉条纹。并可以通过旋转待测样品测试不同空间频率衍射波的透射光强或者干涉条纹对比度,以确定待测超衍射材料样品的光传输特性。本发明方法结构简洁,设计灵活,且测试方法便捷,实时性强。
搜索关键词: 一种 衍射 材料 传输 特性 测试 分析 方法
【主权项】:
一种超衍射材料光传输特性的测试分析方法,其特征在于测试分析的步骤包括:步骤S1:利用激发光栅和检测光栅组成测试光路;步骤S2:将光源入射光经偏振片调整为电场方向与激发光栅方向垂直的线偏振模式照射到激发光栅,使激发光栅产生多级次的携带空间频率的衍射波并通过旋转待测超衍射材料样品,得到激发光栅产生的不同空间频率衍射波的传输特性,其中转动角度与产生的空间衍射频率kx满足: k x = k 0 sin θ + 2 π T ex n , 其中n=0,±1,±2,.......,k0为自由空间波矢,θ为斜入射角度,Tex为激发光栅周期,n表示激发光栅的衍射级次;步骤S3:待测超衍射材料样品的透射波与检测光栅差频形成携带待测超衍射材料样品传输特性的干涉条纹并利用物镜进行观测,以此确定超衍射材料的光学传输特性。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310035988.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top