[发明专利]应用FPGA实现ATE测试波形的Verilog编码方法在审
| 申请号: | 201310030605.0 | 申请日: | 2013-01-28 |
| 公开(公告)号: | CN103969574A | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
| 发明(设计)人: | 曾志敏 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/3183 | 分类号: | G01R31/3183 |
| 代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
| 地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种应用FPGA实现ATE测试波形的Verilog编码方法,采用task语句构建向量周期信号集合的描述,对ATE测试周期向量进行分析,归类周期种类集合;在verilog代码中的向量周期信号描述集合区,对周期种类集合中每种周期对应信号行为进行具体描述,构建出向量周期信号描述集合,向量周期信号描述集合中各个周期信号采用周期信号波形为特征关键字作识别命名周期描述名;利用Case条件语句,以向量周期数作为Case语句触发条件,以周期描述名作为条件选择对象,将周期描述名与指定时钟周期数进行关联,构建出与ATE测试向量描述对应的向量输出列表。本发明能提高由ATE测试向量向FPGA设计实现转换的开发效率和灵活性,能降低开发难度,提高设计效率。 | ||
| 搜索关键词: | 应用 fpga 实现 ate 测试 波形 verilog 编码 方法 | ||
【主权项】:
一种应用FPGA实现ATE测试波形的Verilog编码方法,采用task结构语句和Case条件语句,编码主体结构由向量周期信号描述集合区和向量输出列表区两部分组成,其特征是,包括:对ATE测试向量的周期向量进行分析,归类出一个基于周期种类的集合;在verilog代码中的向量周期信号描述集合区,采用task结构语句对周期种类集合中的每种周期对应的信号行为进行具体描述,构建出向量周期信号描述集合,向量周期信号描述集合中的各个周期信号采用周期信号波形为特征的关键字作识别命名周期描述名;对照ATE测试向量输出的周期时序关系,在verilog代码中,利用Case条件语句结构,以时钟周期数作为Case触发条件,以周期描述名作为条件选择内容,将周期描述名与指定时钟周期数进行关联,进一步构建出与ATE测试向量描述一一对应的向量输出列表;其中,向量输出列表的每一行,包含周期数及周期描述名。
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