[发明专利]应用FPGA实现ATE测试波形的Verilog编码方法在审
| 申请号: | 201310030605.0 | 申请日: | 2013-01-28 |
| 公开(公告)号: | CN103969574A | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
| 发明(设计)人: | 曾志敏 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/3183 | 分类号: | G01R31/3183 |
| 代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
| 地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 应用 fpga 实现 ate 测试 波形 verilog 编码 方法 | ||
1.一种应用FPGA实现ATE测试波形的Verilog编码方法,采用task结构语句和Case条件语句,编码主体结构由向量周期信号描述集合区和向量输出列表区两部分组成,其特征是,包括:
对ATE测试向量的周期向量进行分析,归类出一个基于周期种类的集合;
在verilog代码中的向量周期信号描述集合区,采用task结构语句对周期种类集合中的每种周期对应的信号行为进行具体描述,构建出向量周期信号描述集合,向量周期信号描述集合中的各个周期信号采用周期信号波形为特征的关键字作识别命名周期描述名;
对照ATE测试向量输出的周期时序关系,在verilog代码中,利用Case条件语句结构,以时钟周期数作为Case触发条件,以周期描述名作为条件选择内容,将周期描述名与指定时钟周期数进行关联,进一步构建出与ATE测试向量描述一一对应的向量输出列表;其中,向量输出列表的每一行,包含周期数及周期描述名。
2.如权利要求1所述应用FPGA实现ATE测试波形的Verilog编码方法,其特征是:所述向量周期信号描述集合包含ATE测试向量所有周期种类的描述,所述向量周期信号描述集合中的一项对应一种周期信号波形的具体描述。
3.如权利要求1所述应用FPGA实现ATE测试波形的Verilog编码方法,其特征是:所述周期描述名与所描述的周期信号的波形特征具有显性表征的关联性,所述显性表征的关联性为所述向量输出列表中的周期描述名及指定时钟周期数组合与ATE测试向量中的周期向量及周期数组合具有一一对应关系。
4.如权利要求1所述应用FPGA实现ATE测试波形的Verilog编码方法,其特征是:所述向量输出列表能通过格式转换程序工具由ATE测试向量转换获得。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司,未经上海华虹宏力半导体制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310030605.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:可调笔记本支撑平台
- 下一篇:具有多供电接口结构的平板工业计算机





