[发明专利]处理装置和测试方法有效
| 申请号： | 201310004911.7 | 申请日： | 2013-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN103207328A | 公开（公告）日： | 2013-07-17 |
| 发明（设计）人： | 菊池裕之;相泽光范 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 | 代理人： | 齐永红 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种处理装置，用于传送多个被测器件并使其与设置于测试装置的测试头上的多个插座相连，其中包括：位置调整部，用于在多个被测器件装载的测试盘上使各个被测器件移动，并调整相对于各个插座的位置；以及，器件装设部，用于将由位置调整部进行位置调整后的多个被测器件装设于多个插座上。所述处理装置能够高速且低耗电地将被测器件连接于测试装置的插座中。 | ||
| 搜索关键词： | 处理 装置 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种处理装置，用于传送多个被测器件并将这些被测器件与设置于测试装置的测试头上的多个插座相连，其中包括：位置调整部，用于在装载有所述多个被测器件的测试盘上使各个所述被测器件移动，并调整相对于各个所述插座的位置；及器件装设部，用于将由所述位置调整部进行位置调整后的所述多个被测器件装设于所述多个插座上。
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