[发明专利]存储器单元及形成存储器单元的方法有效

专利信息
申请号: 201280067470.9 申请日: 2012-12-20
公开(公告)号: CN104067391A 公开(公告)日: 2014-09-24
发明(设计)人: 古尔特杰·S·桑胡;帕斯卡尔·斯里尼瓦桑 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L21/8247
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 孙宝成
地址: 美国爱*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一些实施例包含存储器单元,所述存储器单元按顺序含有;第一电极材料:第一金属氧化物材料、第二金属氧化物材料及第二电极材料。所述第一金属氧化物材料具有在氧浓度方面相对于彼此不同的至少两个区域。所述区域中的一者为第一区域且另一者为第二区域。所述第一区域比所述第二区域更接近所述第一电极材料且具有大于所述第二区域的氧浓度。所述第二金属氧化物材料包含不同于所述第一金属氧化物材料的金属。一些实施例包含形成存储器单元的方法,其中实质上不可逆地将氧从金属氧化物材料的区域转移到吸氧材料。所述氧转移产生所述金属氧化物材料的一个区域内的氧浓度相对于另一区域的差异。
搜索关键词: 存储器 单元 形成 方法
【主权项】:
一种存储器单元,其包括:第一电极材料;第一金属氧化物材料,其在所述第一电极材料之上;所述第一金属氧化物材料具有在氧浓度方面相对于彼此不同的至少两个区域;所述区域中的一者为第一区域且另一者为第二区域;所述第一区域比所述第二区域更接近所述第一电极材料,且具有大于所述第二区域的氧浓度;第二金属氧化物材料,其在所述第一金属氧化物材料之上且直接触及所述第一金属氧化物材料;所述第二金属氧化物材料包括不同于所述第一金属氧化物材料的金属;及第二电极材料,其在所述第二金属氧化物材料之上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美光科技公司,未经美光科技公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201280067470.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top