[发明专利]干涉测量扫描系统和方法

摘要

本发明涉及一种用于利用电磁波对对象（1）进行扫描的干涉测量扫描系统（1000），该对象（1）具有长轴（A），该长轴（A）定义具有第一、第二、第三以及第四象限（I，II，III，IV）的坐标系的一个轴。该系统包括第一天线组件（301），第一天线组件（301）包括第一天线块（201）和第二天线块（202），第一天线块（201）包括至少一个天线线路，该至少一个天线线路包括用于发射电磁波作为传输信号（103）的至少一个发射器元件（101），第一天线块（201）布置在第一象限（I）内；并且第二天线块（202）包括至少一个天线线路，该至少一个天线线路仅包括用于接收来自对象（1）的所发射的电磁波的反射作为接收信号（105）的接收器元件（102），第二天线块（202）布置在邻接第一象限（I）的第二象限（II）内。该系统（1000）进一步包括第二天线组件（302），第二天线组件（302）包括第三天线块（203）和第四天线块（204），第三天线块（203）包括至少一个天线线路，该至少一个天线线路包括用于发射电磁波作为传输信号（103）的至少一个发射器元件（101），第三天线块（203）布置在第三象限（III）内；并且第四天线块（204）包括至少一个天线线路，该至少一个天线线路仅包括用于接收来自对象（1）的所发射的电磁波的反射作为接收信号（105）的接收器元件（102），第四天线块（204）布置在邻接第三象限（III）的第四象限（IV）内。该系统（1000）进一步包括用于使用干涉测量方法对从接收信号（105）下变换的基带信号（105a，105b）进行处理的至少一个信号处理单元（100），干涉测量方法包括对特定接收器元件（102）之间的至少一个相差进行确定。

主权项

1.一种用于利用电磁波对对象（1）进行扫描的干涉测量扫描系统（1000），所述对象（1）具有长轴（A），所述长轴（A）定义具有第一、第二、第三以及第四象限（I，II，III，IV）的坐标系的一个轴，所述系统包括：第一天线组件（301），包括：第一天线块（201），包括至少一个天线线路，该至少一个天线线路包括用于发射电磁波作为传输信号（103）的至少一个发射器元件（101），所述第一天线块（201）布置在所述第一象限（I）内；以及第二天线块（202），包括至少一个天线线路，该至少一个天线线路仅包括用于接收来自所述对象（1）的所发射的电磁波的反射作为接收信号（105）的接收器元件（102），所述第二天线块（202）布置在邻接所述第一象限（I）的所述第二象限（II）内；第二天线组件（302），包括：第三天线块（203），包括至少一个天线线路，该至少一个天线线路包括用于发射电磁波作为传输信号（103）的至少一个发射器元件（101），所述第三天线块（203）被布置在所述第三象限（III）内；以及第四天线块（204），包括至少一个天线线路，该至少一个天线线路仅包括用于接收来自所述对象（1）的所发射的电磁波的反射作为接收信号（105）的接收器元件（102），所述第四天线块（204）布置在邻接所述第三象限（III）的所述第四象限（IV）内；所述系统进一步包括用于使用干涉测量方法对从所述接收信号（105）下变换的基带信号（105a，105b）进行处理的至少一个信号处理单元（100），所述干涉测量方法包括确定在特定接收器元件（102）之间的至少一个相差