[发明专利]干涉测量扫描系统和方法

权利要求书

1.一种用于利用电磁波对对象（1）进行扫描的干涉测量扫描系统（1000），所述对象（1）具有长轴（A），所述长轴（A）定义具有第一、第二、第三以及第四象限（I，II，III，IV）的坐标系的一个轴，所述系统包括：

第一天线组件（301），包括：

第一天线块（201），包括至少一个天线线路，该至少一个天线线路包括用于发射电磁波作为传输信号（103）的至少一个发射器元件（101），所述第一天线块（201）布置在所述第一象限（I）内；以及

第二天线块（202），包括至少一个天线线路，该至少一个天线线路仅包括用于接收来自所述对象（1）的所发射的电磁波的反射作为接收信号（105）的接收器元件（102），所述第二天线块（202）布置在邻接所述第一象限（I）的所述第二象限（II）内；

第二天线组件（302），包括：

第三天线块（203），包括至少一个天线线路，该至少一个天线线路包括用于发射电磁波作为传输信号（103）的至少一个发射器元件（101），所述第三天线块（203）被布置在所述第三象限（III）内；以及

第四天线块（204），包括至少一个天线线路，该至少一个天线线路仅包括用于接收来自所述对象（1）的所发射的电磁波的反射作为接收信号（105）的接收器元件（102），所述第四天线块（204）布置在邻接所述第三象限（III）的所述第四象限（IV）内；

所述系统进一步包括用于使用干涉测量方法对从所述接收信号（105）下变换的基带信号（105a，105b）进行处理的至少一个信号处理单元（100），所述干涉测量方法包括确定在特定接收器元件（102）之间的至少一个相差

2.根据权利要求1所述的系统，所述第三象限（III）与所述第一象限（I）对角线式相对。

3.根据权利要求1或者2所述的系统，其中，所述坐标系具有原点（O）、第一轴（x）、以及第二轴（z），其中，第三轴（y）在所述长轴（A）的方向上。

4.根据权利要求3所述的系统，其中，对于每个天线组件（301，302），一个天线线路的所述至少一个发射器元件（101）和一个对应天线线路的所述接收器元件（102）布置在垂直于所述对象（1）的所述长轴（A）的同一发射器/接收器平面（P）内。

5.根据权利要求3或者4所述的系统，其中，每个天线线路均被布置成平行于所述第一轴（x）。

6.根据权利要求3至5中的任一项所述的系统，其中，每个发射器元件（101）和/或每个接收器元件（102）均以非法线角和/或非零角（θ）布置在所述坐标系内。

7.根据之前权利要求中的任一项所述的系统，其中，对于每个天线组件（301，302），一个天线线路的所述至少一个发射器元件（101）和一个对应天线线路的所述接收器元件（102）形成一个扫描线。

8.根据之前权利要求中任一项所述的系统，所述第一天线块（201）的每个天线线路和/或所述第三天线块（203）的每个天线线路均包括多个发射器元件（101）。

9.根据权利要求8所述的系统，其中，依次发射每个天线线路的所述发射器元件（101）的所述传输信号。

10.根据权利要求8所述的系统，其中，使用信号多路复用概念并行发射每个天线线路的所述发射器元件（101）的所述传输信号。

11.根据之前权利要求中的任一项所述的系统，所述第二天线块（202）的每个天线线路和/或所述第四天线块（204）的每个天线线路包括至少三个接收器元件（102a，102b，102c）。

12.根据之前权利要求中的任一项所述的系统，其中，所述第一天线块（201）和/或所述第三天线块（203）的所述至少一个发射器元件（101）是用于发射电磁波作为传输信号并且用于接收来自所述对象（1）的所发射的电磁波的反射的发射器/接收器元件。

13.根据之前权利要求中的任一项所述的系统，其中，每个天线线路是固定天线线路。

14.根据之前权利要求中的任一项所述的系统，每个天线组件（301，302）均包括位于所述长轴（A）的方向上的多个天线线路或者扫描线，从而形成二维阵列的传感器元件。