[发明专利]在电子器件中使用的富碳的碳氮化硼介电膜无效
申请号: | 201280043509.3 | 申请日: | 2012-07-05 |
公开(公告)号: | CN103782349A | 公开(公告)日: | 2014-05-07 |
发明(设计)人: | 桑·范·恩古叶恩;A·格瑞尔;T·J海格;S·麦合塔 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H01B3/18 | 分类号: | H01B3/18;H01B17/62 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 高青 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 提供一种介电常数等于或小于3.6的富碳的碳氮化硼介电膜,它可被用作各种电子器件中的组件。富碳的碳氮化硼介电膜具有式子CxByNz,其中,x为35原子百分比或更大,y为6原子百分比到32原子百分比,以及z为8原子百分比到33原子百分比。 | ||
搜索关键词: | 电子器件 使用 氮化 硼介电膜 | ||
【主权项】:
一种具有式子CxByNz的介电膜,其中,x为35原子百分比或更大,y为6原子百分比到32原子百分比,以及z为8原子百分比到33原子百分比。
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