[发明专利]自动分析装置以及方法有效
| 申请号: | 201280023931.2 | 申请日: | 2012-05-15 |
| 公开(公告)号: | CN103547928A | 公开(公告)日: | 2014-01-29 |
| 发明(设计)人: | 平野匡章;中村和弘 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号: | G01N35/10 | 分类号: | G01N35/10 |
| 代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 张敬强;严星铁 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 自动且在短时间内实现利用了使用至少一个旋转驱动轴的水平驱动机构的分注探针的定位。使用具有以下组成部分的自动分析装置,分注探针;作为分注探针的水平移动机构具有至少一个旋转驱动轴的分注探针驱动机构;对位时分注探针所接触的部分形成为圆形状的定位部件;检测分注探针与定位部件的接触的接触检测机构;以及控制部。控制部只驱动控制一个驱动轴,使分注探针接触到定位部件的圆形状的部分,接下来,只驱动控制之前已经进行了驱动的轴以外的一个驱动轴,使分注探针接触到定位部件的圆形状的部分。之后,控制部基于检测出接触的各点的位置信息等来计算出定位分注探针的所希望的位置的中心点的位置信息。 | ||
| 搜索关键词: | 自动 分析 装置 以及 方法 | ||
【主权项】:
一种自动分析装置,具有:分注探针,其分注规定量的试样或者试剂;分注探针驱动机构,其具有使上述分注探针沿水平方向二维移动的两个以上的驱动轴,并且,该驱动轴中的至少一个是旋转驱动轴;定位部件,其能够设置或者配置于上述分注探针的吸引位置、排出位置以及清洗位置中的至少任一位置,且对位时上述分注探针所接触的部分形成为圆形状;接触检测机构,其检测出上述分注探针已与上述定位部件接触;以及控制部,其只对上述分注探针驱动机构的两个以上的驱动轴的一个进行驱动控制,使上述分注探针接触到上述定位部件的圆形状的部分,接下来,只对上述已进行了驱动控制的驱动轴以外的一个驱动轴进行驱动控制,使上述分注探针接触到上述定位部件的圆形状的部分,基于检测出上述接触的各点的位置信息,或者,检测出上述接触的各点的位置信息及使上述分注探针移动时的轨迹信息,计算出上述分注探针的吸引位置、排出位置以及清洗位置的至少任一一个的中心点的位置信息。
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