[发明专利]自动分析装置以及方法

权利要求书

1.一种自动分析装置，具有：

分注探针，其分注规定量的试样或者试剂；

分注探针驱动机构，其具有使上述分注探针沿水平方向二维移动的两个以上的驱动轴，并且，该驱动轴中的至少一个是旋转驱动轴；

定位部件，其能够设置或者配置于上述分注探针的吸引位置、排出位置以及清洗位置中的至少任一位置，且对位时上述分注探针所接触的部分形成为圆形状；

接触检测机构，其检测出上述分注探针已与上述定位部件接触；以及

控制部，其只对上述分注探针驱动机构的两个以上的驱动轴的一个进行驱动控制，使上述分注探针接触到上述定位部件的圆形状的部分，接下来，只对上述已进行了驱动控制的驱动轴以外的一个驱动轴进行驱动控制，使上述分注探针接触到上述定位部件的圆形状的部分，基于检测出上述接触的各点的位置信息，或者，检测出上述接触的各点的位置信息及使上述分注探针移动时的轨迹信息，计算出上述分注探针的吸引位置、排出位置以及清洗位置的至少任一一个的中心点的位置信息。

2.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，

上述定位部件具有能够装卸于上述分注探针的吸引位置、排出位置以及清洗位置的至少任一一个的位置的形状部分。

3.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，

上述接触检测机构是静电容量检测机构或者电导通检测机构。

4.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，

n处的停止位置的相互的相对位置误差小到能够忽略的情况下，上述控制部计算出相对于上述停止位置中的两点的中心点的位置信息，通过算术运算来求出相对于其他n－2点的中心点的位置信息，其中n≥3。

5.一种自动分析方法，是在具有如下构成部分的自动分析装置中执行的自动分析方法，该自动分析装置具有：

分注探针，其分注规定量的试样或者试剂；

分注探针驱动机构，其具有使上述分注探针沿水平方向二维移动的两个以上的驱动轴，并且，该驱动轴中的至少一个是旋转驱动轴；

定位部件，其能够设置或者配置于上述分注探针的吸引位置、排出位置以及清洗位置中的至少任一位置，且对位时上述分注探针所接触的部分形成为圆形状；

接触检测机构，其检测出上述分注探针已与上述定位部件接触；以及

控制部，其控制上述分注探针驱动机构以及上述接触检测机构，

上述控制部执行：

只对上述分注探针驱动机构的两个以上的驱动轴中的一个进行驱动控制，使上述分注探针接触到上述定位部件的圆形状的部分的第1处理；

上述第1处理之后，只对上述已进行了驱动控制的驱动轴以外的一个驱动轴进行驱动控制，使上述分注探针接触到上述定位部件的圆形状的部分的第2处理；以及

基于检测出上述接触的各点的位置信息，或者，检测出上述接触的各点的位置信息及使上述分注探针移动时的轨迹信息，计算出上述分注探针的吸引位置、排出位置以及清洗位置的至少任一一个的中心点的位置信息的第3处理。

6.根据权利要求5所述的自动分析方法，其特征在于，

n处的停止位置的相互的相对位置误差小到能够忽略的情况下，上述控制部计算出相对于上述停止位置中两点的中心点的位置信息，通过算术运算来求出相对于其他n－2点的中心点的位置信息，其中n≥3。