[发明专利]自动分析装置以及方法有效
| 申请号: | 201280023931.2 | 申请日: | 2012-05-15 |
| 公开(公告)号: | CN103547928A | 公开(公告)日: | 2014-01-29 |
| 发明(设计)人: | 平野匡章;中村和弘 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号: | G01N35/10 | 分类号: | G01N35/10 |
| 代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 张敬强;严星铁 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 自动 分析 装置 以及 方法 | ||
技术领域
本发明涉及具有分注驱动机构的自动分析装置。
背景技术
以往,存在提供了能够将试样探针或者试剂探针高精度地定位的自动分析装置(参照专利文献1)的文献。专利文献1记载了在自动分析装置中设置检测出探针向固体或者液体接近或者接触的检测部。另外,在该文献中记载了将具有能够进行反应容器的中心位置的检测的中心位置检测部的夹具安装到反应容器。并且,在该文献记载了通过用检测部检测移动中的探针是否接近了或者接触了夹具的中心位置检测部,来将探针定位在反应容器的中心的技术。
另外,提供了驱动探针的前端而与定位槽的侧壁点接触,检测该接触,从而定位探针的前端的探针驱动装置(参照专利文献2)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2009-300152号公报
专利文献2:日本专利第3996851号说明书
发明内容
发明所要解决的课题
专利文献1记载了在具备包含旋转驱动轴的二维水平移动机构的分注驱动机构中,将探针自动地定位到停止位置的方法。然而,该方法中,依次确认有可能成为停止位置的地方是否为反应容器的中心位置。因此,用于确认的工序数变多。
另外,专利文献2记载了在具备只有直线驱动轴的二维水平移动机构的探针驱动装置中,使探针的前端自动地定位的方法。然而,该方法中,沿着各直线驱动轴来驱动探针并检测与圆筒型的定位槽的侧壁的接触点,将其中间点作为各驱动轴方向的中心点。因而,无法适用于包含旋转驱动的分注驱动机构的探针的定位。
本发明的目的在于提供在具备包含至少一个旋转驱动轴的二维水平移动机构的分注驱动机构中,能够将探针自动并且短时间内定位的自动分析装置。
用于解决课题的方法
作为用于解决前述的课题的一个例子,本发明具有以下的构成。
(1)分注探针,其分注规定量的试样或者试剂
(2)分注驱动机构,其具有使分注探针沿水平方向二维移动的两个以上的驱动轴(但是,该驱动轴中的至少一个是旋转驱动轴)
(3)定位部件,其能够设置或者配置于分注探针的吸引位置、排出位置以及清洗位置的至少任一位置(对位时上述分注探针接触的部分的形状为以对位位置为中心的圆形状)
(4)接触检测机构,其检测出分注探针与定位部件接触
(5)控制部,其只驱动控制分注探针驱动机构的两个以上的驱动轴中的一个,使分注探针接触到定位部件的圆形状的部分,接下来,只对之前已经进行了驱动控制的驱动轴以外的一个驱动轴进行驱动控制,使分注探针接触到定位部件的圆形状的部分,基于检测出接触的各点的位置信息、或者检测出接触的各点的位置信息及使分注探针移动时的轨迹信息,计算出分注探针的吸引位置、排出位置以及清洗位置的至少任一一个的中心点的位置信息
发明的效果
根据本发明,在自动分析装置搭载用于二维移动的两个以上的驱动轴中至少一个为旋转驱动轴的分注驱动机构的情况下,也能够以与以往相比少的工序数并且短的时间内,将分注探针的位置自动地定位到规定位置。
通过以下的实施方式的说明,上述以外的课题、构成以及效果将变得更加清楚。
附图说明
图1是表示方式例的自动分析装置的整体构成的图。
图2是表示分注驱动机构的构成例的图。
图3A是表示定位部件的剖面构造例的图。
图3B是表示定位部件的上表面构造的图。
图4是说明分注驱动机构具有两个旋转驱动轴的情况下的利用多个接触点的定位处理的流程图。
图5A是说明分注驱动机构具有两个旋转驱动轴的情况下的利用多个接触点的定位处理的工序的图。
图5B是说明分注驱动机构具有两个旋转驱动轴的情况下的利用多个接触点的定位处理的工序的图。
图5C是说明分注驱动机构具有两个旋转驱动轴的情况下的利用多个接触点的定位处理的工序的图。
图5D是说明分注驱动机构具有两个旋转驱动轴的情况下的利用多个接触点的定位处理的工序的图。
图5E是说明分注驱动机构具有两个旋转驱动轴的情况下的利用多个接触点的定位处理的工序的图。
图6是说明分注驱动机构具有直线驱动轴和旋转驱动轴的情况下的利用多个接触点的定位处理的流程图。
图7A是说明分注驱动机构具有直线驱动轴和旋转驱动轴的情况下的利用多个接触点的定位处理的工序的图。
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