[发明专利]铜配线的形成方法、配线基板的制造方法以及配线基板无效
申请号: | 201280014403.0 | 申请日: | 2012-03-14 |
公开(公告)号: | CN103460817A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | 又木裕司 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | H05K3/10 | 分类号: | H05K3/10;H01B5/14;H01B13/00;H01L21/28;H01L21/288;H01L21/3205;H01L21/768;H01L23/532;H05K3/12;H05K3/24 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 臧建明 |
地址: | 日本东京港区*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种可提高铜配线的导电性,并且可抑制随时间劣化的铜配线的形成方法、配线基板的制造方法以及配线基板。铜配线的形成方法包括:配线图案形成步骤,将分散有具有100nm以上的平均粒径的第1铜粒子(14)的第1悬浮液(12)赋予至基板(10)上,利用第1悬浮液(12)在基板(10)上形成配线图案;干燥步骤,使第1铜粒子(14)在小于150℃的温度下进行干燥;第2悬浮液赋予步骤,将第2悬浮液(16)赋予至配线图案,所述第2悬浮液(16)中分散有具有较第1铜粒子(14)的平均粒径小的平均粒径的第2铜粒子(18);致密化步骤,减小第1铜粒子及第2铜粒子(14、18)之间的空隙;加热步骤,对第1铜粒子及第2铜粒子(14、18)施加热;以及还原处理步骤,对第1铜粒子及第2铜粒子(14、18)进行还原处理。 | ||
搜索关键词: | 铜配线 形成 方法 配线基板 制造 以及 | ||
【主权项】:
一种铜配线的形成方法,其特征在于包括:配线图案形成步骤,将分散有具有100nm以上的平均粒径的第1铜粒子的第1悬浮液赋予至基板上,利用所述第1悬浮液在所述基板上形成配线图案;干燥步骤,在所述配线图案形成步骤后,使所述配线图案中的所述第1铜粒子在小于150℃的温度下进行干燥;第2悬浮液赋予步骤,在所述干燥步骤后,将第2悬浮液赋予至所述配线图案,所述第2悬浮液中分散有具有较所述第1铜粒子的平均粒径小的平均粒径的第2铜粒子;致密化步骤,在所述第2悬浮液赋予步骤后,减小所述配线图案中的所述第1铜粒子及所述第2铜粒子之间的空隙;加热步骤,在所述致密化步骤后,对所述配线图案中的所述第1铜粒子及所述第2铜粒子施加热;以及还原处理步骤,在所述加热步骤后,对所述配线图案中的所述第1铜粒子及所述第2铜粒子进行还原处理。
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