[实用新型]半导体测试分选设备有效
| 申请号： | 201220571800.5 | 申请日： | 2012-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN202909967U | 公开（公告）日： | 2013-05-01 |
| 发明（设计）人： | 黄伟;陈祺 | 申请（专利权）人： | 佛山市蓝箭电子股份有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 艾持平 |
| 地址： | 528051 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种半导体测试分选设备，包括测试爪，带动测试爪与被测器件的引脚接触与分离的测试爪驱动机构，测试爪通过测试导线与设备的控制器连接，测试爪仅布置在被测器件引脚的单一侧面，在被测器件引脚的另一侧面设有可承托被测器件引脚的绝缘体，测试爪以面接触的方式与被测器件的引脚接触。本实用新型既能确保测试的稳定性，又能确保被测器件引脚的外观和共面性。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 测试 分选 设备 | ||
【主权项】：
半导体测试分选设备，包括测试爪（1），带动测试爪与被测器件的引脚接触与分离的测试爪驱动机构，测试爪通过测试导线与设备的控制器连接，特征是：所述测试爪（1）仅布置在被测器件引脚的单一侧面，在被测器件引脚的另一侧面设有可承托被测器件引脚的绝缘体（2），测试爪（1）以面接触的方式与被测器件的引脚接触。
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