[实用新型]样品芯片及使用该样品芯片的元件安装精度检查方法有效

专利信息
申请号: 201220355261.1 申请日: 2012-07-20
公开(公告)号: CN202907411U 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 清水利律;前田文隆 申请(专利权)人: 富士机械制造株式会社
主分类号: H05K13/04 分类号: H05K13/04;H05K13/08
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 穆德骏;谢丽娜
地址: 日本爱知*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 实用新型提供价格比较低廉且能够进行高精度的安装精度检查的样品芯片及安装精度检查方法。将样品芯片(110)设置成如下的形状:无论是从被吸附面(112)侧观察时还是从安装面(114)侧观察时,比上述被吸附面和安装面中的至少一方大的一条外周线(118)均被目视确认为轮廓,使用该样品芯片来进行与电气元件安装机的安装精度相关的检查。即使不将该样品芯片的制作精度设置得极高,从被吸附面侧拍摄得到的该样品芯片的拍摄数据和从安装面侧拍摄得到的该样品芯片的拍摄数据在该样品芯片的形状上也可保持一致,因此,价格比较低廉且能够进行高精度的安装精度检查。
搜索关键词: 样品 芯片 使用 元件 安装 精度 检查 方法
【主权项】:
一种样品芯片,被用于检查电气元件安装机的元件安装精度,其特征在于, 所述样品芯片具有:被吸附面,由吸嘴吸附;和安装面,在该样品芯片被安装于基板上的状态下与该基板的表面相接触,且与所述被吸附面平行; 并且,所述样品芯片具有如下的形状:无论是从被吸附面侧观察时还是从安装面侧观察时,比所述被吸附面和所述安装面中的至少一方大的一条外周线均被目视确认为轮廓。
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