[实用新型]一种控制基座外缘聚焦环温度的组件有效
申请号: | 201220328056.6 | 申请日: | 2012-07-06 |
公开(公告)号: | CN202651058U | 公开(公告)日: | 2013-01-02 |
发明(设计)人: | 彭帆;吴狄;左涛涛 | 申请(专利权)人: | 中微半导体设备(上海)有限公司 |
主分类号: | H01J37/32 | 分类号: | H01J37/32;H01L21/67 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 王洁 |
地址: | 201201 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种控制基座外缘聚焦环温度的组件,所述组件位于等离子体处理室内,所述等离子体处理室内包括一基座,用以支撑待加工晶片,所述待加工晶片外缘环绕设置一聚焦环,所述聚焦环下方设置一导热环,所述聚焦环的下表面与所述导热环之间设置第一导热垫,所述导热环与所述基座之间设置第二导热垫。通过在所述聚焦环下方设置多层导热层,最大效率的保证聚焦环的热量快速传递到所述基座上,由于所述基座内部设置有冷却系统,所述聚焦环的热量传递到所述基座后可以被基座内的冷却系统带走,从而可以保持所述基座温度控制在要求范围内。 | ||
搜索关键词: | 一种 控制 基座 外缘 聚焦 温度 组件 | ||
【主权项】:
一种控制基座外缘聚焦环温度的组件,位于一等离子体处理室内,所述等离子体处理室内包括一基座,用以支撑待加工晶片,所述待加工晶片外缘环绕设置一聚焦环,所述聚焦环包括一上表面和一下表面,所述上表面与等离子体处理室内的等离子体接触,所述下表面下方设置一导热环,所述导热环坐落于所述基座上,其特征在于:所述聚焦环的下表面与所述导热环之间设置第一导热垫,所述第一导热垫的厚度小于2毫米;所述导热环与所述基座之间设置第二导热垫,所述第二导热垫的厚度小于2毫米。
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