[发明专利]数字类电子表芯片测试仪有效
| 申请号： | 201210593692.6 | 申请日： | 2012-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN103064012A | 公开（公告）日： | 2013-04-24 |
| 发明（设计）人： | 方盼 | 申请（专利权）人： | 深圳安博电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/3177 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯片测试领域，具体涉及数字类电子表芯片测试仪。数字类电子表芯片测试仪，包括：探针台，探针卡，主控芯片，测试晶圆芯片的管脚上的保护二极管是否完好的参数测试电路，测试晶圆芯片在上电且有时钟的情况下工作时的功耗的IDD参数测试电路，测试晶圆芯片的工作频率的频率参数测试电路，测试晶圆芯片的逻辑功能的逻辑功能测试电路，将主控芯片的控制信号传输至探针台的TTL接口电路。该数字类电子表芯片测试仪，其电路结构简单，具备OS参数测试、IDD参数测试、频率参数测试、逻辑功能测试等数字类电子表芯片所需的测试功能，在保证测试要求的同时降低数字类电子表芯片的测试成本以及生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 数字 电子表 芯片 测试仪 | ||
【主权项】：
一种数字类电子表芯片测试仪，其特征在于，包括：探针台（1）；探针卡（2）；主控芯片（3）；测试晶圆芯片的管脚上的保护二极管是否完好的OS参数测试电路（41），所述OS参数测试电路（41）的测试端接所述探针卡（2）、受控端接所述主控芯片（3）的OS参数测试控制端、输出端接所述主控芯片（3）的OS参数测试端；测试晶圆芯片在上电且有时钟的情况下工作时的功耗的IDD参数测试电路（42），所述IDD参数测试电路（42）的测试端接所述探针卡（2）、输出端接所述主控芯片（3）的IDD参数测试端；测试晶圆芯片的工作频率的频率参数测试电路（43），所述频率参数测试电路（43）的测试端接所述探针卡（2）、受控端接所述主控芯片（3）的频率参数测试控制端、输出端接所述主控芯片（3）的频率参数测试端；测试晶圆芯片的逻辑功能的逻辑功能测试电路（44），所述逻辑功能测试电路（44）的测试端接所述探针卡（2）、输出端接所述主控芯片（3）的逻辑功能测试端；显示所测试的晶圆芯片的参数信息的显示电路（6），所述显示电路（6）接所述主控芯片（3）的显示输出端；输入控制信号的按键输入电路（7），所述按键输入电路（7）接所述主控芯片（3）的按键输入端；将所述主控芯片（3）的控制信号传输至所述探针台（1）的TTL接口电路（8），所述TTL接口电路（8）接所述主控芯片（3）的探针台控制端。
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