[发明专利]数字类电子表芯片测试仪

说明书

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，具体涉及数字类电子表芯片测试仪。

背景技术

随着数字集成电路（芯片）的应用日趋广泛和国家对半导体行业发展支持，国内CMOS数字集成电路设计能力得到了长足的发展，产业规模也达到了空前的繁荣。然而国内从事集成电路后序加工的企业无论从规模还是从数量上说都相对落后，所用测试仪也大部分是从外引进，这些测试仪价格昂贵，操作复杂，在一定程度上增加了集成电路的生产成本。

如今，随着晶圆流片工艺和技术的不断提高，单颗芯片的面积越来越小，集成复杂度越来越高，在后序的测试加工过程中对测试仪的要求也越来越高，从而迫使企业必须不断引进更高档的测试仪来满足生产需要。同时，相对低端的数字消费类产品因其产量大、功能简单也占据了集成电路产品的较大一部分市场，若采用的进口测试仪进行生产，势必增加生产成本，一定程度上降低了企业的竞争力。因此，开发出针对此类低端数字芯片测试仪，是降低生产成本的方法之一。

目前，在低端的数字消费类产品中，数字类电子表所采用的芯片即为低端芯片，而现有技术尚未提供针对数字类电子表芯片的测试仪。

发明内容

本发明的目的在于提供一种数字类电子表芯片测试仪，旨在解决现有技术尚未提供针对数字类电子表芯片的测试仪的问题。

本发明采用以下技术方案：

一种数字类电子表芯片测试仪，包括：

探针台；

探针卡；

主控芯片；

测试晶圆芯片的管脚上的保护二极管是否完好的OS参数测试电路，所述OS参数测试电路的测试端接所述探针卡、受控端接所述主控芯片的OS参数测试控制端、输出端接所述主控芯片的OS参数测试端；

测试晶圆芯片在上电且有时钟的情况下工作时的功耗的IDD参数测试电路，所述IDD参数测试电路的测试端接所述探针卡、输出端接所述主控芯片的IDD参数测试端；

测试晶圆芯片的工作频率的频率参数测试电路，所述频率参数测试电路的测试端接所述探针卡、受控端接所述主控芯片的频率参数测试控制端、输出端接所述主控芯片的频率参数测试端；

测试晶圆芯片的逻辑功能的逻辑功能测试电路，所述逻辑功能测试电路的测试端接所述探针卡、输出端接所述主控芯片的逻辑功能测试端；

显示所测试的晶圆芯片的参数信息的显示电路，所述显示电路接所述主控芯片的显示输出端；

输入控制信号的按键输入电路，所述按键输入电路接所述主控芯片的按键输入端；

将所述主控芯片的控制信号传输至所述探针台的TTL接口电路，所述TTL接口电路接所述主控芯片的探针台控制端。

本发明提供的数字类电子表芯片测试仪，其电路结构简单，且具备OS参数测试、IDD参数测试、频率参数测试、逻辑功能测试等数字类电子表芯片所需的测试功能，因此在保证测试要求的同时降低了数字类电子表芯片的测试成本以及生产成本。

附图说明

图1为本发明实施例提供的数字类电子表芯片测试仪的电路原理框图；

图2为本发明实施例提供的数字类电子表芯片测试仪的OS参数测试电路的电路原理图；

图3为本发明实施例提供的数字类电子表芯片测试仪的IDD参数测试电路的电路原理图；

图4为本发明实施例提供的数字类电子表芯片测试仪的频率参数测试电路的电路原理图；

图5为本发明实施例提供的数字类电子表芯片测试仪的逻辑功能测试电路的电路原理图；

图6为本发明实施例提供的数字类电子表芯片测试仪的显示电路的电路原理图；

图7为本发明实施例提供的数字类电子表芯片测试仪的按键输入电路的电路原理图；

图8为本发明实施例提供的数字类电子表芯片测试仪的TTL接口电路的电路原理图；

图9为本发明实施例提供的数字类电子表芯片测试仪的RS-232接口电路的电路原理图；

图10未本发明实施例提供的数字类电子表测试仪所采用的ATmega128单片机示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例对本发明作进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用于解释本发明，并不用于限制本发明。

参照图1，本发明实施例提供的数字类电子表芯片测试仪的电路原理框图。

一种数字类电子表芯片测试仪，包括：

探针台1；

探针卡2；

主控芯片3；