[发明专利]数字类电子表芯片测试仪

权利要求书

1.一种数字类电子表芯片测试仪，其特征在于，包括：

探针台（1）；

探针卡（2）；

主控芯片（3）；

测试晶圆芯片的管脚上的保护二极管是否完好的OS参数测试电路（41），所述OS参数测试电路（41）的测试端接所述探针卡（2）、受控端接所述主控芯片（3）的OS参数测试控制端、输出端接所述主控芯片（3）的OS参数测试端；

测试晶圆芯片在上电且有时钟的情况下工作时的功耗的IDD参数测试电路（42），所述IDD参数测试电路（42）的测试端接所述探针卡（2）、输出端接所述主控芯片（3）的IDD参数测试端；

测试晶圆芯片的工作频率的频率参数测试电路（43），所述频率参数测试电路（43）的测试端接所述探针卡（2）、受控端接所述主控芯片（3）的频率参数测试控制端、输出端接所述主控芯片（3）的频率参数测试端；

测试晶圆芯片的逻辑功能的逻辑功能测试电路（44），所述逻辑功能测试电路（44）的测试端接所述探针卡（2）、输出端接所述主控芯片（3）的逻辑功能测试端；

显示所测试的晶圆芯片的参数信息的显示电路（6），所述显示电路（6）接所述主控芯片（3）的显示输出端；

输入控制信号的按键输入电路（7），所述按键输入电路（7）接所述主控芯片（3）的按键输入端；

将所述主控芯片（3）的控制信号传输至所述探针台（1）的TTL接口电路（8），所述TTL接口电路（8）接所述主控芯片（3）的探针台控制端。

2.如权利要求1所述的数字类电子表芯片测试仪，其特征在于，所述OS参数测试电路（41）包括：

第一运算放大器U14A、第二运算放大器U14D、CD4051模拟开关U13、电阻R21、电阻R22、电阻R23、滑动电阻R24；

所述第一运算放大器U14A的同相输入端通过所述电阻R22接5V电源、反相输入端通过所述电阻R21接地、正电源端接5V电源、负电源端接-5V电源、输出端通过所述电阻R23接其反相输入端、输出端通过所述滑动电阻R24的第一定端，

所述滑动电阻R24的滑动端接其第一定端，

所述第二运算放大器U14D的同相输入端接所述滑动电阻R24的第二定端、输出端接其反相输入端以及所述第一运算放大器U14A的同相输入端；

所述CD4051模拟开关U13的电源脚VDD接5V电源、负电压脚VEE接-5V电源、禁止脚INH以及数字信号接地脚VSS接地、输入输出脚1-5作为所述OS参数测试电路（41）的测试端接所述探针卡（2）中对应于晶圆芯片的功能引脚的端口、地址脚A-C作为所述OS参数测试电路（41）的受控端接所述主控芯片（3）的DC参数测试控制端，公共输入输出脚OUT/IN作为所述OS参数测试电路（41）的输出端接所述主控芯片（3）的OS参数测试端。

3.如权利要求1所述的数字类电子表芯片测试仪，其特征在于，所述IDD参数测试电路（42）包括第三运算放大器U15A、滑动电阻R25、电阻R26、电容C17；

所述滑动电阻R25的定端连接于5V电源以及地之间、滑动端接所述第三运算放大器U15A的同相输入端，

所述电阻R26连接于所述第三运算放大器U15A的反相输入端以及输出端之间，

所述电容C17连接于所述第三运算放大器U15A的反相输入端以及输出端之间，

所述第三运算放大器U15A的同相输入端作为所述IDD参数测试电路（42）的测试端接所述探针卡（2）中对应于晶圆芯片的电源引脚的端口、输出端作为所述IDD参数测试电路（42）输出端接所述主控芯片（3）的IDD参数测试端。